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产品型号: JEM-2100
生产厂家:日本电子株式会社
仪器主要特点:
一、仪器主要配制
1.美国GATAN 832 CCD相机
2．OXFORD INCA x射线能量色散谱仪
3．单倾样品台,双倾样品台,铍双倾台
二、仪器主要特点
1.大加速电压: 200 KV
2.放大倍数: X50～1500,000
3.点分辨率: 0.23 nm
4.线分辨率: 0.14 nm
5.样品大倾斜角度：±35º
6.能谱能量分辨率：136 ev
7.元素检测范围：B～U元素
仪器主要用途：
JEOL JEM-2100 透射电子显微镜可同时进行材料晶体结构的电子衍射分析与高分辨像分析，兼具分析微相，观察图像，测定成分和鉴定结构等多种功能；配合能谱分析可以实现元素的 X 射线、面分析；在成像系统方面 可以直接拍摄电子衍射图像，并通过相应软件对衍射花样进行标注、分析，可完全取代传统的底片拍摄，能方便的直接观察、研究材料的内部的相组成和分布，以及晶体中位错、层错晶界、空位等缺陷，是研究材料微观组织有力的工具之一。广泛应用于纳米材料、催化剂、高分子材料、金属材料、半导体材料、地质矿物、生物医学等方面。
面向学科：
其应用领域涉及到材料、化学、化工、环境、凝聚态物理、生物、电子、医药等诸多学科。
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