试验项目
等级
辐照度W/m2
温度℃
时间/剂量
初始/终功率稳定化
(IEC 61215-2:2016)
AAA/CCC
1000±2%
800~1000
50±10
5 or 10
KW·h/m2
光老炼试验(IEC 61646:2008)
CCC
600~1000
43KW·h/m2
热斑耐久试验
BBB
1h / 5h
温度试验(温升试验)
—
1000
40
温度系数的测量
STC+30↑
连续
低辐照度下的性能
BBA
200
25
STC和NMOT下的性能
1000 / 800
25 / 20
大功率测试
AAA
电弧试验(UL1703方法B)
800
15min
高温条件下额定功率(IEC 61853-1)
75
电池光衰(LID)(IEC 60904-11)
50~70
2KW·h/m2
辐照均匀度监控系统：标准电池自动定时横向-纵向传动，超出±5%自动报警
辐照监控系统：经标定的标准电池
I-V测试：自动计算Isc、Voc、Pm、Imp、Vmp、FF、η等，自动生成并保存I-V、P-V曲线
光谱等级：AAA级（光谱匹配度A+级，稳定性A+级）
辐照强度：800~1020W/m2
辐照强度解析度：1W/m2
光谱匹配度A范围：400~1100nm及300~1200nm（IEC 60904-9:2016定义）
热斑耐久试验遮光板：
晶体硅组件：0~100%可按5%递增或递减
薄膜组件：1~5片遮光条，横向传动（见右图）
热斑耐久试验电流采集分析系统：集成在系统中
判别、筛选有效Isc：晶硅为Imp，薄膜为99%Imp
辐照度自动均匀性测试系统：
标准电池安装在机械传动装置上，全程全境扫描，
扫描时间可设置
扫描位置：72点（参照IEC 60904-10≥64点）
自动记录72位置的辐照度
自动计算平均辐照度及辐照不均匀度
辐照量自动累积
① 晶体硅组件遮光板
电池遮光板：50%,20%,20%,10%,5%
0 ~ 100%按5%~10%增量递增或递减。
② 薄膜组件遮光板
1~5片电池遮光板 (横向移动)
Ordinal sequence covering 1~5 pcs cells,
according to current find Imp×99%, determine shaded plates number.
Electric control displacement shaded plates to suitable current.
Adjust the shaded plates to suitable current.
Data processing system: current automatic collection & analysis
电弧试验(方法B)：
参照及执行标准：UL 1703-2015
电子负载及I-V测试系统：
I-V曲线拟合：定速扫描10~20ms + 分段变速扫描10~100~1000ms/段 (软件编程)
分段变速扫描用于高容/高效组件测试，解决了“Charge hysteresis for direct sweep”、“Discharge hysteresis for reverse sweep”的I-V测试难题。
额定电压/电流/功率：750W（大电压500V/大电流30A，或大电压120V/大电流60A)
电压测试精度：±(0.025%+0.025%FS)
电流测试精度：±(0.05%+0.05%FS)
功率测试精度：±(0.2%+0.2%FS)
自动计算Isc、Voc、Pm、Imp、Vmp、FF、η等，自动生成并保存I-V、P-V曲线图
微型逆变器：
功率：500W
扰动观察法实现大功率跟踪
软件界面：