用于alpha能谱测量的ULTRA和ULTRA-AS探测器采用了表面钝化和离子注入工艺（即PIPS探测器），该工艺的探测器有诸多优点：接触极更薄，更坚固；低噪声，对Alpha能谱分辨率好；使用边缘钝化技术，可以使样品离探测器入射窗小到1mm。而一般面垒型探测器*小只能达到2.5mm。所以该类型探测器的效率要更高；常温使用，探测器窗可擦拭。
Ultra-AS针对Ultra的区别或改进是采用了进一步低本底的材料，以专适于在ORTEC Alpha Suite谱仪。
ULTRA-CAM系列则是针对气溶胶连续监测设计，探测器具有特殊密闭和抗潮性能。
Beta能谱测量的难处在于常温状态下由硅探测器很难获得良好的分辨率。ORTEC提供以下两种解决方案：1，Beta-X Si（Li）一体化探测器（包含探头，冷指前放）；2，A和L系列可制冷的厚硅探测器。
ULTRA与ULTRA-AS系列离子注入硅探测器
A系列局部耗尽金硅面垒探测器
B系列全耗尽金硅面垒探测器
C系列环形局部耗尽金硅面垒探测器
D系列平面全耗尽金硅面垒探测器
F系列局部耗尽重离子金硅面垒探测器
L系列锂漂移硅（室温）探测器
R系列加强型局部耗尽硅探测器