表面电阻测试仪 - 宁波盘羊仪器有限公司

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	FT-303C绝缘粉末/液体电阻率测试仪 FT-303C	FT-303C绝缘粉末/液体电阻率测试仪一、概述：绝缘材料存在的状态有固态规则形状如（长方体，圆柱体等是固有形状）及不规则状态（如粉末状,膏体状，液态流动状），目前对绝缘体材料的测试方法和测量方式基本上是采用三环电极结构测量规则形状体
	FT-330系列普通四探针电阻率测试仪 FT-330	FT-330系列普通四探针电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国
	FT-701电炭制品电阻率测试仪 FT-701	FT-701电炭制品电阻率测试仪一.满足标准：JB/T8133.2-1999 电炭制品物理化学性能试验方法. 二.适用范围：三.功能描述：直流恒流源输出系统结合集成电路及高精度芯片控制，大液晶显示屏幕更加直观，直读电阻，电压降，电阻率，高精度的测试量程；各类参数和功能设定通过薄膜面板实现，人性化设计符合人体工学原理，提供USB、232通讯接口；可以连接打印机、电脑和其他外接控制单元，配置PC软件可以获得更多过程数据，测试报表处理、存储和数据分析有助于产品研发和质量管控.在PC软件下可以获得电流、电阻率、电阻
	FT-394系列手持式四探针电阻率测试仪 FT-394	FT-394系列手持式四探针电阻率测试仪一．概述：参照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》，采集高精密集成电路恒流源系统，提供便捷的操作模式，便携式外形结构，可充电式电源系统，中英文语言版本.
	FT-393系列手持式方块电阻测试仪 FT-393	FT-393系列手持式方块电阻测试仪三、概述：参照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》，采集高精密集成电路恒流源系统，提供便捷的操作模式，便携式外形结构，可充电式电源系统，中英文语言版本.
	瑞柯仪器粉体密度测试仪FT-100A FT-100A	FT-100A粉体密度测试仪测试对象各种金属粉：如铝粉、锆粉、镍粉、钨粉、锡粉、锌粉、钼粉、镁粉、铜粉以及其它稀有金属粉、合金粉或金属氧化物粉末等。各种非金属粉：如滑石粉、高岭土、碳酸钙、煤粉、荧光粉、水镁石、方解石、硅灰石、电气石、金刚石、重晶石、萤石、沸石、碳化硼、黏土、石墨、石英、石膏、膨润土、硅藻土、硅酸锆、刚玉、云母、粘土、等。其它粉末：如土壤、染料、医药、农药、磨料、涂料、食品添加剂、催化剂、水泥、河流泥沙等。

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