Filmetrics F40 光学膜厚测量仪膜厚测试仪
结合显微镜的薄膜测量系统 Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数,通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析,几秒钟内就可测量结果。 当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行,或者其他应用要求光斑小至1微米时,F40是*好的选择。使用先前足部校正显微镜的物镜,再进行测量,即可获得精准的厚度及光学参数值。只要透过Filmetrics的C-mount连接附件,F40就可以和市面上多数的显微镜连接使用。C-mount上装备有CCD摄像头,可以让用户从电脑屏幕上清晰地看到样品和测量位置。
Filmetrics优势 • 桌面型薄膜厚度测量的全球*** • 24小时电话、Email、在线技术支持 • 直观的分析软件
附 加 特 性
• 嵌入式在线诊断方式
• 免费离线分析软件
相关应用 半导体制造 生物医学原件 • 光刻胶 • 聚合物/聚对二甲苯 • 氧化物/氮化物 • 生物膜/气泡墙厚度 • 硅或其他半导体膜层 • 植入**涂层 微电子 液晶显示器 • 光刻胶 • 盒厚 • 硅膜 • 聚酰亚胺 • 氮化铝/氧化锌薄膜滤镜 • 导电透明膜
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