UENOSEIKI上野精机株式会社：半导体设备

UENOSEIKI上野精机株式会社：半导体设备自1972年3月创业以来，一直以半导体制造装置的开发、设计、制造、销售、维护为一体的系统，作为支撑半导体产业的个性企业持续成长。我们经常注意的是，提供“对顾客有魅力的商品”、“让顾客满意的服务”、“让顾客放心的支持体制”。

并且，活用到现在为止的实际成果和经验，作为更能挑战的提案型企业，为了能遵从大家的期待，今后我们也会努力，迈进。无论如何，今后也请多多指导和关照。

UENOSEIKI上野精机株式会社：半导体设备

2020年，日本移动通信将进入5G时代。通信速度大幅上升，各种各样的东西与通信网络相连的近未来的社会（IoT）即将到来。

与此同时，智能手机、智能手表、智能玻璃、汽车等我们身边的产品正在急速进化，预计上野精机对高品质半导体、电子零件检查装置的需求将进一步提高。

我们以“NEXT ONE～顽强的挑战～”为口号，向着新时代不断进化。

UENOSEIKI上野精机株式会社：半导体设备

UENOSEIKI上野精机株式会社：半导体设备

测试激光

标记生产性产品尺寸详细信息

LT-evo

零件

进纸器

管，管

（option）



磁带&

卷盘



6面检查



可能的



option



70000

UPH



0.4x0.2mm

~

TO-220



详细信息

LT36

零件

进纸器

管，管

（option）



磁带&

卷盘



6面检查



*多16个同测



option



测试时间

根据同一测量



0.4x0.2mm

~

TO-220



详细信息

LT-Hot

零件

进纸器

管，管

（option）



磁带&

卷轴

Bin



6面检查



常温

高温试验



option



温度，测试

根据时间



0.4x0.2mm

~

TO-220



详细信息

RT

晶片

6,8,12”



磁带&

卷盘



6面检查

（IR option）



option

背面电极

双面电极



option



30000

UPH



0.4x0.2mm

~

7x7mm



详细信息

RT-Tray

晶片

6,8,12”



托盘

（JEDEC）

（Waffle）



6面检查

（透明体内部

也可以检查）



的下界



的下界



20000

UPH



1x1mm

~

10x10mm



详细信息

RT-Wafer

晶片

6,8,12”



晶片

6,8”

托盘

（JEDEC）

（Waffle）



6面检查

（透明体内部

也可以检查）



的下界



的下界



20000

UPH



0.5×0.5 mm

~

10x10mm



详细信息

RS-evo

晶片

6,8,12”



磁带&

卷盘



6面检查

（IR option）



option



option



70000

UPH



0.4x0.2mm

~

10x10mm



详细信息

RST

晶片

6,8,12”



磁带和卷轴

（带宽单点切换option）



6面检查

（IR option）



option



option



50000

UPH



0.4x0.2mm

~

12×12 mm



详细信息

RV-evo

晶片

6,8”



磁带&

卷盘



6面检查

（IR option）



的下界



的下界



60000

UPH



0.4x0.2mm

~

7x7mm



详细信息

TS-evo

晶片

8,12”



磁带&

卷盘



6面检查

（IR option）



option



option



50000

UPH



0.4x0.2mm

~

12×12 mm



详细信息

WS-evo

晶片

12,8”



晶片

12,8”



6面检查

（IR option）



的下界



的下界



24000

UPH



0.4x0.2mm

~

15x15mm



详细信息

RP124

晶片

6,8”



晶片

6,8”



6面检查

（IR option）



电气测试

在工作空间的边缘

光学测试

双面电极



的下界



24000

UPH



0.4x0.2mm

~

7x7mm



详细信息

RV320

晶片

6,8”



磁带&

卷盘

（正反反转）



6面检查

（IR option）



电气测试

在工作空间的边缘

光学测试



的下界



24000

UPH



0.4x0.2mm

~

7x7mm



详细信息

RHR-evo

晶片

6,8,12”

零件进料器打开



磁带和卷轴

管，管



6面检查



常温→高温→常温测试



option



24000

UPH



1x1mm

~

8x8mm



详细信息

LV-evo

托盘

（Waffle）

※JEDEC option

零件进料器打开



托盘

（Waffle）

※JEDEC option



6面检查



的下界



的下界



36000

UPH



0.4x0.2mm

~

10x10mm



详细信息

TR-Tray

托盘

（JEDEC）

（Waffle）



托盘

（JEDEC）

（Waffle）



6面检查

（IR option）



的下界



option



36000

UPH



1x1mm

~

15x15mm



详细信息

TR-Tape

托盘

（JEDEC）

（Waffle）



磁带&

卷盘



6面检查

（IR option）



option



option



36000

UPH



1x1mm

~

15x15mm