产品名称：MLCC电容器温度特性测试系统 评估材料绝缘性能和电学特性

产品特点

可用于评估特定温度环境下电容器和各种材料的静电容量 (C)、损耗因子 (D) 和阻抗 (Z)。

   01.64个通道的自动测量该系统可以测量不同温度环境下的静电容量 (C)、损耗因子 (D) 和阻抗 (Z) 的多通道。 您可以选择8~64个通道。

   02. 图形功能允许实时查看测量结果收集的数据，包括不同温度、频率和时间下的电特性值和变化率，可以通过各种图形函数进行实时审查。

   03.多种可选夹具适用于不同的试验样本（可选） 除了 SMD 组件的专用夹具外，我们还提供了根据离散设备形状定制的夹具。

   04.可从不同测试模式选择温度特性评价试验、恒定运行试验和频率特性试验。

      <温度特性评估测试> 在此测试模式下，自动记录特性数据，并与温度变化同步。

      <持续运行测试> 该测试模式测量以下参数的变化特定中随时间推移 的特征自动记录数据。

      <频率特性评价试验> 该试验模式在特定温度环境下改变频率的同时，自动记录不同频率下的特性数据。测试可与温度特性评价测试或恒定运行测试相结        合。

应用程序

电容器

   01.静电容量(C)  

   02.损失因子(D)  

   03.阻抗的温度特性 (Z)   

   04.频率特征

电子材料

   01.印刷电路板  

   02.通量  

   03.绝缘材料（树脂、薄膜等） 

   04.介电材料（钛、陶瓷、钽、铝电解材料等）

产品参数

01.测量项目：静电容量 (C)、损耗系数 (D)、阻抗 (Z)、电阻 (Rs，Rp) *和电感 (Ls，Lp) *

02.检测项目：温度特性评价试验（相对于温度的变化）   恒定运行检测（相对于检测时间的变化）   频率特性评价试验 （相对于频率的变化）

03.通道配置：8通道（标准）；值64通道可扩展8通道增量

04.测量方法：交流四端对测量

05.测量范围：测量频率：20 Hz ~ 1 MHz 静电容量 (C)：50 pF ~ 5 mF 损失因子 (D)：0.0001 ~ 9.9999

06.静电容量 (C)：50 pF ~ 5 mF

     损失因子 (D)：0.0001 ~ 9.9999

     阻抗 (Z)：10 mΩ ~ 100 mΩ

07.测量仪器：LCR 计 (Keysight Technologies)

08.测量范围：选择AUTO，10Ω，100Ω，300Ω，1kΩ，3kΩ，10kΩ，30 kΩ或100 kΩ

09.直流偏压：±0 ~ ±40V

10.测量间隔：1 min ~ 1500 min（恒定运行期间）

11.温度步骤：从规定40步开始/结束温度的模式中选择 以及输入所需温度的步长间隔和模式

12.频率步长：值50步（设置为所需值）

13.补偿：短时补偿，开放补偿

14.环境试验系统控制：使温度数据采集与测量和的温度控制同步 具有 RS-485 功能的环境测试系统。

15.测量电缆：由聚四氟乙烯制成的同轴电缆 （特性阻抗 (Z)，50Ω，95 pF/m）

16.外部尺寸：530（宽）×1832（高）×800（深）mm（不包括突出部分）

17.设备电源：100 VAC ±10% 1φ 50/60 Hz 15 A