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产品资料

激光位移测厚系统 双点测厚系统 板材测厚 非接触激光测厚

激光位移测厚系统 双点测厚系统 板材测厚 非接触激光测厚
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  • 产品名称:激光位移测厚系统 双点测厚系统 板材测厚 非接触激光测厚
  • 产品型号:
  • 产品展商:泓川科技
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简单介绍
激光位移测厚系统 双点测厚系统 板材测厚 非接触激光测厚 激光位移测厚系统 双点测厚系统 板材测厚 非接触激光测厚
产品描述

激光位移测厚系统 双点测厚系统 板材测厚 非接触激光测厚

激光位移测厚系统 双点测厚系统 板材测厚 非接触激光测厚

产品说明

精密型激光位移传感器是拥有多项核心发明**,确保了产品的高精度、高重复性、高可靠性,可广泛应用于3C制造生产线、机器人、数控中心等场景的在线、离线测量。与控制器可分可合,灵活搭配用于不同场景。

性能特点

1、基于激光三角测距原理实现非接触当然测距;

2、**的非线性光学系统保证了测量精度;

3、高精密工业级线阵CCD保证了测量的准确性;

4、**的SCAN功能实现了10万倍的动态调节范围;

5、变色LED超量程指示灯为操作者提供了便利;

6、归一化输出保证超大互换性并可避免二次标定;

7、的外壳与结构规范易于更换和升级;

8、标准模块化设计兼顾稳定性与低成本。

规格参数


型号  单位 LDS-P-10 LDS-P-20   LDS-P-50  LDS-P-100 LDS-P-200
测量起点  mm  24  32 40  50 70
量程  mm  10  20 50  100 200
分辨力  um  0.1  0.2  0.5  1  2
重复精度  um  ±0.5  ±1  ±2.5  ±10  ±25
线性度   ±0.05%F.S.
采样频率   10/50/100/200/500/1K/2K Hz(可设定)
温漂   ±0.01%F.S./℃
光源   650nm半导体红光(II类),2mW
信号输出   RS485/1-5V(可选)
电源   18-28VDC/500mA
防护等级   IP67
体积   75mm*60mm*25mm
重量   200g
备注 1、上述精度指标是在标准测试条件下得到(标准被测表面、标准测试环境、采样频率1KHz,取64次平均值);
2、测量量程可达到10mm-1000mm全范围,以上仅提供部分量程参考。

激光位移测厚系统 双点测厚系统 板材测厚 非接触激光测厚


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