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西崎科技（成都）有限公司
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西南供应日本日立HITACHI基于设计数据的计量系统

供应日本日立HITACHI基于设计数据的计量系统的详细介绍

提高生产性以及测量程式质量

可不使用晶片及测长SEM，离线作成测量程式
可仅通过制定计测点及测长方法，自动作成测量程式
可不依赖于操作者的技术，作成统一质量的测量程式
采用服务器&客户端方式

利用设计数据自动作成测长SEM测量程式

「DesignGauge-Analyzer」特点

对CG5000中取得的SEM图像进行再次测长
具备可通过SEM图像查阅及表格形式进行测长结果确认等数据分析功能
使用测长算法的Contour（模型形状的轮廓线）提取功能（Contour：可选功能）

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