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日本日立HITACHI，高解析度FEB测量装置，绵阳供应
供应日本日立HITACHI高解析度FEB测量装置CS4800（CD-SEM）  的详细介绍


  • 考虑了更换现有设备或共同使用情况下的设备占地面积和GUI*1
  • 通过**设备的研发经验，搭载了高精度测量技术和*新的计量应用。
  • 通过光学轴自动化调整，减少了由于操作员熟练度而造成的测量偏差。
  • 更高的图像处理技术，实现Recipe自动测量并提高产能。
  • 新的晶圆搬送系统兼容4,6,8英寸多尺寸晶圆。
*1
GUI (Graphic User Interface):使用计算机的图形显示器和鼠标等指示设备的软件操作系统。

测量精度 1nm（3σ）（采用日立标准晶圆）
晶圆尺寸 直径 100mm, 150mm, 200mm
自动装片装置 2个
设备尺寸（主体） 1180（宽）× 2500（长）× 1990（高）毫米
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