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日本日立HITACHI，高速缺陷观测设备，贵阳供应
供应日本日立HITACHI高速缺陷观测设备CR6300(Defect Review SEM)  的详细介绍


特长

  • 高画质，高对此，高解析度SEM图像
  • 高速缺陷摄像（ADR）
  • 人性化的GUI
＜选项＞
  • 自动缺陷分类（ADC）
  • Bare wafer自动观测
  • 检查制程说明书（iPQ）
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