日本Otsuka大塚 - 西崎科技（成都）有限公司

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	日本Otsuka大塚分光干扰式厚度计SF-3四川成都西崎供应 SF-3	日本Otsuka大塚分光干扰式厚度计SF-3四川成都西崎供应以非接触的温哈和树脂的超高速实时、高精度的测定日本Otsuka大塚分光干扰式厚度计SF-3四川成都西崎供应
	日本Otsuka大塚复发测量装置RETS-100NX四川成都西崎供应 RETS-100NX	日本Otsuka大塚复发测量装置RETS-100NX四川成都西崎供应 OLED用偏振板、积层相位差胶卷、IPS液晶相位差胶卷付偏振板等，是对应所有胶卷的转型测量装置。实现了与超高Re.60000 nm对应的高速、高精度测量。将胶片的积层状态“不剥落，非破坏”来测量。此外，在操作面上也搭载了简单的软件和修正样本的修正功能，可以简单地进行高精度的测量。日本Otsuka大塚复发测量装置RETS-100NX四川成都西崎供应
	日本Otsuka大塚高速旋转型测量装置RE-200四川成都西崎供应 RE-200	日本Otsuka大塚高速旋转型测量装置RE-200四川成都西崎供应光軸の高精度管理！ 3σ≦0.02° 低リタデーション測定に日本Otsuka大塚高速旋转型测量装置RE-200四川成都西崎供应
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