日本Otsuka大塚高速旋转型测量装置RE-200四川成都西崎供应

特　長

• 0nmからの低（残留）リタデーション測定が可能
• 光軸検出と同時にリタデーション(Re.)の高速測定が可能
  （世界*速相当0.1秒以下での処理が可能）
• 駆動部がないため、高い繰り返し再現性を実現
• 設定する測定項目が少なく、測定が簡単
• 測定波長は550nmのほか、さまざまな波長をラインアップ
• Rth測定、全方位角測定が可能
  （オプションの自動回転傾斜治具が必要です
• 引張試験機と組み合わせることにより、フィルムの偏光特性と同時に光弾性評価が可能
  (このシステムは特注対応となります。）

• リタデーション（ρ[deg.], Re[nm]）
• 主軸方位角（θ[deg.]）
• 楕円率（ε）・方位角（γ）
• 三次元屈折率（NxNyNz）

• 位相差フィルム、偏光フィルム、楕円フィルム、視野角改善フィルム、各種機能性フィルム
• 樹脂、ガラスなど透明で異方性のあるもの（ガラスにひずみ、歪みなど）

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