四川成都供应日本SSD衰减测定器H0110
SSD H-0110带电电荷衰减度测试器产品说明：
1：本装置是依据編织物及针织品之带电性测试方法JIS L1094-1980的半衰期测定器。
2： 就试料的带电方法而言,由于采用电晕(corona)放电产生之空气离子的照射,依选择电晕(corona)放电的极性及印加电压,测试可带任一正、负电,电压值也可改变。
3： 带电方法並非靠摩擦,因此不需损坏试料,可正确且测定带电记录。
4：电晕(corona)放电方式比起摩擦带电方式、电压直接印加方式,再现性良好,因此可与其他试料比较。
5：如有薄膜(film)、板子、丝线、地毯、玻璃等薄状试料的话,可全部测定。
粤公网安备 51012402000291号
