德国PCE测温仪PCE-IR 10强大的红外线温度测量仪，带LCD场，可连续使用
表面红外线 - 所有固体的温度测量（用于长久安装）
红外测温仪PCE-IR10是一个微型测量头和一个独立的电子装置。
红外测温仪上的传感器非常小，几乎可以安装在任何地方。尽管如此，该仪表提供了与较大系统相同的性能。 PCE-IR10的评估电子器件提供信号处理功能，否则该价格范围内的产品不可用。其中包括发射率调整，*大值和*小值维护以及平均值，所有这些均可通过LCD面板或通过可选的PC软件进行编程。由于其体积小，成本低，该红外线温度计非常适合在生产过程中进行多次安装。正确，易于安装和合理定价。通过PCE-IR10，非接触式温度测量成为接触式温度计的替代方案。在实践中请看红外温度计的测量短记。
为了使用此系统的*大精度，您可以选择设置发射率。对于不同的被测材料，这种排放是不同的（参见发射率图表）。在表格中，您可以自己确定所需的发射率，然后将其设置在温度计上。相应的程序可以在这里找到。
主要优点：
高测量范围（高达+ 600°C）
微型测量头可安装在狭小空间内
模拟输出
USB / RS-232 / RS-485 /继电器输出（也可选）
环境温度高达+180°C（测量头）; 电子（高达+65°C）
可调发射率，*大值和*小值保留，平均值
LCD显示器
网络功能（*多32个RS-485传感器，可选））
电源8 ... 36 VDC
技术参数：
对于带有RS-232 / RS-485的传感器
接口允许Connect软件通过温度计访问其他数字功能。 WIN 95/98 / NT / 2000，'XP运行软件可以实现传感器的参数化和远程监控以及自动化。 数据记录用于分析产品质量。
15：1的光学分辨率可在LT（低温），G5（玻璃）和MTB（中等温度）范围内进行温度测量。因此，您可以测量几乎所有材料表面，并且可以处理模拟/数字测量值。
红外测温仪的测量头
微型测量头也可以放置在难以触及的地方。 默认情况下，测量头的光学分辨率为15：1。尺寸为28 x 14 mm
电缆的直径为5毫米，长度为1米。
在需要同时捕获和评估多个热瞬态峰值的工厂中，PCE-IR10温度计特别适合。 这是一个监视和编程的*多
可以在一个RS-485网络中使用32个传感器。
技术数据
电子参数
输出
模拟：
4 ... 20 mA，0 ... 20 mA，0 ... 5 V，0 ... 10V
（可扩展），J或K热电偶
10 mV /°C传感器头温度
报警继电器（软件控制）
可选数字输出：
USB，RS-232，RS-485，继电器
输入
发射率，背景温度补偿，触发（软件控制）
电缆长度
1米（标准，其他长度可以选择订购）
耗电量
*大100毫安
电源
8 ... 36 VDC
Allgemeine Parameter一般参数
防护等级
IP65 (NEMA-4)
环境温度
- 测量头
-20 ... +180 °C
储存温度
-40 ... + 85°C
相对湿度
10 ... 95％不凝结
EMI
IEC 801-3，等级3（*大电缆长度3米）
重量
40g （420g毛重）
Messtechnische Parameter计量参数
测量范围
-40 ... + 600°C
光谱
8.0 ...14μm
光学分辨率1
15：1
系统准确性2
±1％或±1°C3
再生性
±0.5％或±0.5°C3
温度系数
±0.05°C /°C或±0.05％/°C3
温度分辨率
0.1°C5
响应时间
150毫秒（95％）
发射
0.100 - 1.100数字可调（每增加0.001）
透过率
0.100 - 1.000数字可调 （每增加0.001）
信号处理
*大值，*小值，平均值，
保持阈值和滞后功能
1 90％的能量
2在环境温度23°C±5°C
3每个更大的值适用
4使用基于NIST / DKD认证探头的ISO校准证书
5温度范围300K
光学参数：
所提供的非接触式温度计型号
固定安装的测量点比率为15：1，因此非常适合低散射
窗体底端
技术参数： 窗体顶端
- 线性度为0.5％ - 0.2％重复性 - 双向流量测量 - 快速可调的响应时间 - 消除干扰频率 - 包括数据记录器功能 - 存储多达2000个测量值 - 自动关机省电功能（可禁用） - 将时间和日期戳的测量数据保存到内部存储器 - 工厂校准，可充电电池供电的流量测量装置
标准配置：
1个电子盒，
1个模拟接口，
带测量头的1米电缆（15：1光学元件），
说明书
可选配件：
RS485接口板
订单编号：ACCTRS485B
接口板包括**个电缆密封套/在网络运行中使用多个传感器时
制造商：PCE Instruments
应用范围：
石油、化工、化纤;纺织、橡胶、建材;电力、冶金、医药;食品等工业领域现场测温过程控制;特别适用于计算机测控系统,也可与仪表配套使用.