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	X射线镀层测厚仪 Stark STARK系列	X射线镀层测厚仪 AXIOM镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在极少甚至无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的21Ti到92U 。 X射线镀层测厚仪 AXIOM配备超高分辨率的探测器，是检测超薄镀层和痕量级元素成分的理想仪器。
	X射线镀层测厚仪 STARK系列	X射线镀层测厚仪 AXIOM镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在极少甚至无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的21Ti到92U 。 X射线镀层测厚仪 AXIOM配备超高分辨率的探测器，是检测超薄镀层和痕量级元素成分的理想仪器。
	X射线镀层测厚仪 AXIOM系列	X射线镀层测厚仪 AXIOM镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在极少甚至无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的21Ti到92U 。 X射线镀层测厚仪 AXIOM配备超高分辨率的探测器，是检测超薄镀层和痕量级元素成分的理想仪器。

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