HEKA ELPro Scan 电弧学扫描显微镜系统**支持众多材料类型:
• 金属/ 合金/ 金属陶瓷 • 光伏半导体和锂电材料 • 导电聚合物 • 复合型纳米结构 • 生物细胞,大分子和纳米膜 • 有机电解质/溶液界面/离子液体 • 电化学活性有机物 以及更多的前沿交叉科学材料…
HEKA ELPro Scan电化学扫描显微镜系统*全的扫描技术和扫描模式: • Scanning Electrochemical Microscopy (SECM) • Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM) • Scanning Electrochemical Cell Microscopy (SECCM) • Scanning Microcapillary Contact Method (SMCM) • Scanning Kelvin Probe (SKP) • Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) • Simultaneous Surface Topography Mapping • Shear-force Height and Volume Instant Tracking • Synchronized Fluorescence Imaging • Scanning Photoelectrochemical Microscopy (SPECM) • Spatially-resolved Scanning μ-EIS, μ-CV, μ-Tafel
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