首页 >>> 产品目录 >>> 电化学
仪表展览网 >>> 展馆展区 >>> HEKA ELPro Scan电化学工作站显微镜
> HEKA ELPro Scan电化学工作站显微镜

产品资料

HEKA ELPro Scan电化学工作站显微镜

HEKA ELPro Scan电化学工作站显微镜
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:HEKA ELPro Scan电化学工作站显微镜
  • 产品型号:ELPro Scan/ELP1/ELP3
  • 产品展商:HEKA
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
ElProScan扫描电化学显微镜 HEKA ElProscan是一台扫描电化学显微镜,用于研究样品的电化学活性表面。它属于 扫描探针显微镜(AFM, STM, SECM)家族的一员。2005年HEKA公司创立了ElProscan 品牌,它包括传统的SECM实验方法及扩展功能。整个系统包括三个主要部分,定位 系统,双恒电位仪,数据采集系统。 定位系统控制微电极在溶液中电化学活性样品表面上进行三维扫描,因此ElProscan 可用作传统的SECM仪器并且具有更多的功能。ElProscan与传统的SECM不同之处在于 它不仅仅记录针尖的电流信号,而且在针尖上可实现任何电化学实验方法的应用 (用可编程脉冲发生协议Programmable Pulse Protocol来完成)。在脉冲发生协议 运行过程中,在样品上应用独立的电
产品描述

HEKA ELPro Scan 电弧学扫描显微镜系统**支持众多材料类型:

• 金属/ 合金/ 金属陶瓷
• 光伏半导体和锂电材料
• 导电聚合物
• 复合型纳米结构
• 生物细胞,大分子和纳米膜
• 有机电解质/溶液界面/离子液体
• 电化学活性有机物
以及更多的前沿交叉科学材料…


HEKA ELPro Scan电化学扫描显微镜系统*全的扫描技术和扫描模式:
• Scanning Electrochemical Microscopy (SECM)
• Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM)
• Scanning Electrochemical Cell Microscopy (SECCM)
• Scanning Microcapillary Contact Method (SMCM)
• Scanning Kelvin Probe (SKP)
• Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET)
• Simultaneous Surface Topography Mapping
• Shear-force Height and Volume Instant Tracking
• Synchronized Fluorescence Imaging
• Scanning Photoelectrochemical Microscopy (SPECM)
• Spatially-resolved Scanning μ-EIS, μ-CV, μ-Tafel

产品留言
标题
联系人
联系电话
内容
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!
  • 温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买前务必确认供应商资质与产品质量。
  • 免责申明:以上内容为注册会员自行发布,若信息的真实性、合法性存在争议,平台将会监督协助处理,欢迎举报
产品留言
标题
内容
联系人
联系电话
电子邮件
公司名称
联系地址
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!

沪公网安备 31010502003083号