光学系统
型号：O-INSPECT
ZEISS O-INSPECT 每个领域中的专家 来自蔡司的O-INSPECT复合式测量机使您能理想地测量到每一个特征——通过光学或接触式。一个重要的特色：O-INSPECT在18-30℃的温度范围内提供符合ISO标准的可靠三维精度。一个附加的亮点：CALYPSO软件不仅简便地交付测量结果，而且简化了发觉和辨识错误原因的过程。
大视野，高清图像——蔡司Discovery远心变焦镜头
蔡司Discovery.V12来自蔡司显微镜事业部。与常规镜头比较，提供四倍更大视场，即便于镜头周边区域亦可确保清晰图像质量。优点：减少测量时间并具有稳定的精度。
更多测量点，更多信息——蔡司VAST XXT连续扫描测头
O-INSPECT配备灵活、快速及高精度的VAST XXT接触式连续扫描测头。 通过这种扫描测头即可捕捉相当大量的测量点，取得有关形状和位置的信息，是此类测量机中的佼佼者。别的多探头测量机仅允许单点测量，而且探针测力相当大；蔡司O-INSPECT却能以毫牛级别探针测力进行扫描测量，所以针对薄壁的工件也能实现真正的3D测量。
既快速又精准。让您一目了然——蔡司CALYPSO软件
O-INSPECT与CALYPSO测量软件提供全新的可视化功能，使O-INSPECT**开启了测量机可视化的新纪元。通过它们您可以同时查看实际状态、理论状态及偏差，更快捷诠释测量结果。