4寸手动探针台说明探针台选型指导 规格描述 4寸手动探针台说明探针台选型指导探针台载物台平整度：5μm 体式显微镜立柱支架，显微镜Z轴50mm升降高度，工作距离110mm 4英寸载物盘，卡盘平整度：5μm，采用真空吸附方式，中心孔径250μm-1mm 卡盘可0-360度旋转，旋转角度可微调（选件），微调精度为0.1度，带角度锁定旋钮 旋钮可以控制载物盘X-Y方向的移动，移动范围为100mm，移动精度为1μm 载物台up/down功能（选项） 可以搭配4颗探针座，进行DC或者高频测试
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Metal crack and metal shift after thermal Shock
⑦HTST: 高温储存试验（High Temperature Storage Life Test ）
目的：评估IC产品在实际使用之前在高温条件下保持几年不工作条件下的生命时间。
测试条件：150℃
失效机制：化学和扩散效应，Au-Al 共金效应
4寸手动探针台说明探针台选型指导具体的测试条件和估算结果可参考以下标准：MIT-STD-883E Method 1008.2；JESD22-A103-A；EIAJED- 4701-B111
Kirkendall Void
⑧可焊性试验（Solderability Test ）
目的：评估IC leads在粘锡过程中的可靠度
测试方法：
Step1：蒸汽老化8 小时
Step2：浸入245℃锡盆中 5秒
4寸手动探针台说明探针台选型指导失效标准（Failure Criterion）：至少95％良率
具体的测试条件和估算结果可参考以下标准：MIT-STD-883E Method 2003.7；JESD22-B102。