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产品资料

日本KETT 膜厚计探头

日本KETT 膜厚计探头
  • 如果您对该产品感兴趣的话，可以
  • 产品名称：日本KETT 膜厚计探头
  • 产品型号：EP-110
  • 产品展商：日本KETT
  • 产品文档：无相关文档
简单介绍
产品描述

日本KETT 膜厚计探头 EP-110

特点：

膜厚计探头L-500 / L-600

电磁探针（用于磁性金属基材）

L型/通用

*多可保存 50 个应用程序内存

测量方法 电磁感应式
测量目标 磁性金属上的非磁性涂层
测量范围 0至2500μm
测量精度 小于 50μm ±1.0μm，50μm 以上 ±2%
*基于我们指定的条件
兼容的设备类型 膜厚计 L-500、膜厚计 L-600 标准/专家


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