XRF涂镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作，快速和无损的分析。可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的14Si到92U。 MAXXI 6针对较薄而复杂的样品，具有上乘的解决方案。MAXXI 6配备多准直器系统及超大样品舱，是*佳功能性与*高检测精度兼备的理想工具。
分析层数&元素数量
• 自定义（在元素范围内）
• 自定义镀层结构,含合金镀层 X射线激发
• 50 kV, 1.2 mA (60 W) 高压发生器
• Be窗微聚焦W阳极靶射线管(Mo阳极靶射线管可选) 探测器
• 25 mm2 SDD探测器Peltier电制冷
• 能量分辨率140 eV (FWHM for MnKα ) 一次绿光片(选配件)
• 多至5位自动切换一次滤光片 准直器
• 单准直器: 0.1 x 0.4 mm, 0.1 x 0.7 mm, 0.1 mm, 0. 3 mm, 0.5 mm, 0.7 mm Ø
• 8位程控交换准直器系统 0.05 x 0.05 mm, 0.1 mm x 0.3 mm, 0.05 mm x 0.25 mm, 0.1 mm, 0.2 mm, 0.3 mm, 0.5 mm, 1 mm Ø (选配件) 数字脉冲处理器
• 4096 CH 数字多道处理器
• 含死时间校正和脉冲累积消除功能的自动信号处理