产品目录

当前位置：首页 >>> 公司新闻 >

公司新闻

介电常数测试仪的操作

介电常数测试仪介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。

1.双击LCQ_DAT_GET.EXE文件,打开数据采集软件,注意不要被防火墙关闭加载的组件.

2.首先点击Power off按钮，按钮中字母变为Power on,同时界面中间的一条黑色条变为为红色时，开始正常工作。选择串口号，根据设备管理器里的端口根据括号里的COM号来选择对应的串口。

3.点击TEST LQ按键,设备会自动扫频测试元器件的电感量,谐振频率和Q值

4.数据的保存：点击“保存数据“按键，将把所测数据保存在RFID_SAVE.txt文件中.可在右下角方框内输入保存文件的目录,比如:d:\Qtest\ .如果不设置目录,则文件保存在与LCQ_DAT_GET.EXE软件同一目录下.

5.如果没有USB驱动,请安装CDM v2.08.30 WHQL Certified.exe.If you do not have a USB driver, install CDM v2.08.30 WHQL Certified.exe.

尊敬的客户：

您好，我司是一支技术力量雄厚的高素质的开发群体，为广大用户提供高品质产品、完整的解决方案和优异技术服务公司。主要产品有阻抗测试仪、磁性元件测试仪、电感测试仪等。本企业坚持以诚信立业、以品质守业、以进取兴业的宗旨，以更坚定的步伐不断攀登新的高峰，为民族自动化行业作出贡献，欢迎新老顾客放心选购自己心仪的产品。我们将竭诚为您服务！

上一篇：阻抗测试仪简介
下一篇：磁性元件分析仪的量测参数

若网站内容侵犯到您的权益，请通过网站上的联系方式及时联系我们修改或删除