LCR阻抗分析仪 - 苏州裕登电子科技有限公司

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阻抗分析仪 | LCR测试仪 | 磁性材料测试仪 | 测试治具及附件

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	精密阻抗分析仪	TH2839系列同惠精密阻抗分析仪采用阻抗测量范围宽的自动平衡电桥技术，其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的频率范围可以满足元件与材料的测量要求，是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料（电子材料和非电子材料）的研究和开发提供了强有力的工具。
	精密阻抗分析仪	TH2839系列同惠精密阻抗分析仪采用阻抗测量范围宽的自动平衡电桥技术，其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的频率范围可以满足元件与材料的测量要求，是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试的强有力工具。它的优良性能和功能为电路的设计和开发以及材料（电子材料和非电子材料）的研究和开发提供了强有力的工具。
	稳科WK6500B精密阻抗测试仪	WK6500B系列稳科精密介电常数测试仪： 1J6505B 20Hz~5MHz 1J6510B 20Hz~10MHz 1J6515B 20Hz~15MHz 1J6520B 20Hz~20MHz 1J6530B 20Hz~30MHz
	WK6500B系列深圳稳科精密介电常数测试仪	WK6500B系列稳科精密介电常数测试仪：1J6505B 20Hz~5MHz 1J6510B 20Hz~10MHz 1J6515B 20Hz~15MHz 1J6520B 20Hz~20MHz 1J6530B 20Hz~30MHz 1J6550B 20Hz~50MHz 1J65120B 20Hz~120MHz
	WK6505B精密阻抗测试仪5MHz	WK6505B精密阻抗测试仪5MHz 简易的TFT触屏操作，10分钟内轻易上手电介质、压电片及石英晶体测试解决方案 30 ms超高速测试速度等效Rdc ，量测到0.01mΩ 0.05%基本*度可内建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias 可将测试波形储存成CSV格式，放大、缩小及MARKER功能 20Hz~120MHz，七种机型，可随时升级，高
	WK6510B精密阻抗测试仪10MHz	WK6510B精密阻抗测试仪10MHz 简易的TFT触屏操作，10分钟内轻易上手电介质、压电片及石英晶体测试解决方案 30 ms超高速测试速度等效Rdc ，量测到0.01mΩ 0.05%基本*度可内建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias 可将测试波形储存成CSV格式，放大、缩小及MARKER功能 20Hz~120MHz，七种机型，可随时升级，高
	WK6515B精密阻抗测试仪15MHz	WK6515B精密阻抗测试仪15MHz 简易的TFT触屏操作，10分钟内轻易上手电介质、压电片及石英晶体测试解决方案 30 ms超高速测试速度等效Rdc ，量测到0.01mΩ 0.05%基本*度可内建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias 可将测试波形储存成CSV格式，放大、缩小及MARKER功能 20Hz~120MHz，七种机型，可随时升级，高
	WK6520B精密阻抗测试仪20MHz	WK6520B精密阻抗测试仪20MHz 简易的TFT触屏操作，10分钟内轻易上手电介质、压电片及石英晶体测试解决方案 30 ms超高速测试速度等效Rdc ，量测到0.01mΩ 0.05%基本*度可内建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias 可将测试波形储存成CSV格式，放大、缩小及MARKER功能 20Hz~120MHz，七种机型，可随时升级，高
	WK6530B精密阻抗测试仪30MHz	WK6530B精密阻抗测试仪30MHz 简易的TFT触屏操作，10分钟内轻易上手电介质、压电片及石英晶体测试解决方案 30 ms超高速测试速度等效Rdc ，量测到0.01mΩ 0.05%基本*度可内建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias 可将测试波形储存成CSV格式，放大、缩小及MARKER功能 20Hz~120MHz，七种机型，可随时升级，高
	WK6550B精密阻抗测试仪50MHz	WK6550B精密阻抗测试仪50MHz 简易的TFT触屏操作，10分钟内轻易上手电介质、压电片及石英晶体测试解决方案 30 ms超高速测试速度等效Rdc ，量测到0.01mΩ 0.05%基本*度可内建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias 可将测试波形储存成CSV格式，放大、缩小及MARKER功能 20Hz~120MHz，七种机型，可随时升级，高升级到120MHz 直觉的用户操作接口，
	WK65120B阻抗分析仪120MHz阻抗测试仪	WK65120B精密阻抗分析仪120MHz 简易的TFT触屏操作，10分钟内轻易上手电介质、压电片及石英晶体测试解决方案 30 ms超高速测试速度等效Rdc ，量测到0.01mΩ 0.05%基本*度可内建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias 可将测试波形储存成CSV格式，放大、缩小及MARKER功能 20Hz~120MHz，七种机型，可随时升级，高升级到120MHz 直觉的用户操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER 可使用鼠标及键盘操控，也可外接打印机及使用USB接口储存数据具等效电路仿真功能，内建同频率LCR Meter一台
	AT826手持数字100KHz电桥LCR	AT826手持LCR 数字电桥100Hz~100kHz的测量频率，恒定100Ω源内阻，0.6Vrms测量电平，0.2%的测量精度，兼备了手持表的便携型和台式仪器的优越性能！
	AT825手持数字10KHz电桥LCR	AT825手持LCR 数字电桥100Hz~10kHz的测量频率，恒定100Ω源内阻，0.6Vrms测量电平，0.2%的测量精度，兼备了手持表的便携型和台式仪器的优越性能！
	AT3816B数字电桥LCR测试仪	AT3816A 测试频率采用10Hz～200kHz 37频点，测试信号电平0.01Vrms～2.00Vrms（10mV步进），采用纯直流信号DCR测量，内部直流偏压(DC BIAS, ±2.5V)
	LCR-6002高精度LCR表2kHz	3.5" 彩色LCD显示屏 2kHz 测试频率连续可调基本准确度 : 0.05% *快测试速度25mS
	LCR-6020高精度LCR表20kHz	3.5" 彩色LCD显示屏 20kHz 测试频率连续可调基本准确度 : 0.05% *快测试速度25mS
	LCR-6100高精度LCR表100kHz	3.5" 彩色LCD显示屏 100kHz 测试频率连续可调基本准确度 : 0.05% *快测试速度25mS
	LCR-6200高精度LCR表200kHz	3.5" 彩色LCD显示屏 200kHz 测试频率连续可调基本准确度 : 0.05% *快测试速度25mS
	LCR-6300高精度LCR表300kHz	3.5" 彩色LCD显示屏 300kHz 测试频率连续可调基本准确度 : 0.05% *快测试速度25mS
	LCR-8110G高精度LCR测试仪10MHz	宽广的测试频率范围20Hz~10MHz 0.1%基本**度&6位解析度 DC电阻测量带有被测元件电压/电流监控的测量功能带有判断警报的PASS/FAIL测试功能

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