LCR测试仪 - 苏州裕登电子科技有限公司

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电容测试仪 | 台示LCR测试仪 | 手持LCR测试仪

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	6500P系列高频LCR测试仪50MHz	1J6550P 频率范围 20Hz ~ 50MHz 0.05%基本**度，频率分辨率≤1mHz 内置交流信号：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms 电容(C), 电感(L), 电阻(R), 电导(G), 电纳(B), 电抗(X), 损耗因数(D), 品质因数(Q), 阻抗(Z), 导纳(Y), 相位角(θ)、介电常数（ε′ 𝑟相对介电常数实部、ε′′r相对介电常数虚部、
	6500P系列高频LCR测试仪30MHz	1J6530P 频率范围 20Hz ~ 30MHz 0.05%基本**度，频率分辨率≤1mHz 内置交流信号：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms 电容(C), 电感(L), 电阻(R), 电导(G), 电纳(B), 电抗(X), 损耗因数(D), 品质因数(Q), 阻抗(Z), 导纳(Y), 相位角(θ)、介电常数（ε′ 𝑟相对介电常数实部、ε′′r相对介电常数虚部、
	6500P系列高频LCR测试仪20MHz	1J6520P 频率范围 20Hz ~ 20MHz 0.05%基本**度，频率分辨率≤1mHz 内置交流信号：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms 电容(C), 电感(L), 电阻(R), 电导(G), 电纳(B), 电抗(X), 损耗因数(D), 品质因数(Q), 阻抗(Z), 导纳(Y), 相位角(θ)、介电常数（ε′ 𝑟相对介电常数实部、ε′′r相对介电常数虚部、
	6500P系列高频LCR测试仪15MHz	1J6515P 频率范围 20Hz ~ 15MHz 0.05%基本**度，频率分辨率≤1mHz 内置交流信号：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms 电容(C), 电感(L), 电阻(R), 电导(G), 电纳(B), 电抗(X), 损耗因数(D), 品质因数(Q), 阻抗(Z), 导纳(Y), 相位角(θ)、介电常数（ε′ 𝑟相对介电常数实部、ε′′r相对介电常数虚部、
	6500P系列高频LCR测试仪10MHz	1J6510P 频率范围 20Hz ~ 10MHz 0.05%基本**度，频率分辨率≤1mHz 内置交流信号：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms 电容(C), 电感(L), 电阻(R), 电导(G), 电纳(B), 电抗(X), 损耗因数(D), 品质因数(Q), 阻抗(Z), 导纳(Y), 相位角(θ)、介电常数（ε′ 𝑟相对介电常数实部、ε′′r相对介电常数虚部、
	6500P系列高频LCR测试仪5MHz	1J6505P 频率范围 20Hz ~ 5MHz 0.05%基本**度，频率分辨率≤1mHz 内置交流信号：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms 电容(C), 电感(L), 电阻(R), 电导(G), 电纳(B), 电抗(X), 损耗因数(D), 品质因数(Q), 阻抗(Z), 导纳(Y), 相位角(θ)、介电常数（ε′ 𝑟相对介电常数实部、ε′′r相对介电常数虚部、Dε相对介电损耗）、磁导率（μ ′ 𝑟相对磁导率实部、μ′′r 相对磁导率虚部、Dμ相对磁导率损耗）
	WK5400系列定制频率LCR表10MHz	5400P6H 10MHz 拥有5ms极快的量测速度基本精度0.02%,测试频率点可订制
	WK5400系列定制频率LCR表3MHz	5400P6M 3MHz 拥有5ms极快的量测速度基本精度0.02%,测试频率点可订制
	WK5400系列定制频率LCR表1MHz	5400P6L 1MHz 拥有5ms极快的量测速度基本精度0.02%,测试频率点可订制
	WK5400系列定制频率LCR表10MHz	5400P3H 10MHz 拥有5ms极快的量测速度基本精度0.02%,测试频率点可订制
	WK5400系列定制频率LCR表3MHz	5400P3M 3MHz 拥有5ms极快的量测速度基本精度0.02%,测试频率点可订制
	WK5400系列定制频率LCR表1MHz	5400P3L 1MHz 拥有5ms极快的量测速度基本精度0.02%,测试频率点可订制
	AT817D数字100KHz电桥LCR	AT817D采用高能处理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR测试仪器。精简了AT817的部分功能，内建50Hz~100kHz 10点测试频率，并且提供0.1V、0.3V和1V测试电平，相对于AT817更为优惠的价格，使其能完全满足多数生产现场
	AT811数字电桥LCR	AT811 精简了全功能型AT810的电路，大规模的贴片技术的运用，使用安柏科技经典的微型机箱。内建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz测试频率，并且提供0.3V，1V测试电平，使其能完全满足一般生产现场的使用。
	AT810A数字20KHz电桥LCR	AT810A 采用高性能处理器，使用真彩色LCD屏幕的智能LCR测试仪器。依赖于安柏精湛的技术，使其性能无可挑剔。内建10Hz~20kHz 任意测试频率设置，分辨率0.001Hz，并且提供任意电平设置，分辨率0.01V，使其能完全满足多数生产现场的使用。
	AT810D数字10KHz电桥LCR	AT810D采用高能处理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR测试仪器。大规模的贴片技术的运用，使得AT810D仅需微型机箱即可容纳。依赖于安柏仪器精湛的技术，使其性能亦无可挑剔。内建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz测试频率，并且提供0.3V和1V测试电平，使其能完全满足一般生产现场的使用。
	AT810数字20KHz电桥LCR	AT810 采用高能处理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR测试仪器。大规模的贴片技术的运用，使得AT810仅需微型机箱即可容纳。依赖于安柏科技精湛的技术，使其性能亦无可挑剔。内建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz测试频率，并且提供0.1V、0.3V和1V测试电平，使其能完全满足一般生产现场的使用。
	AT3818精密300KHz数字电桥LCR	AT3818 采用10Hz～300kHz连续频点，分辨率为0.001Hz。测试信号电平0.01Vrms～2.00Vrms，100.0uA- 20.00mA，纯直流信号源的DCR测量以及内部直流偏压±2.5V，同时可选外部偏置 AT3818可同时对元件的4参数进行测试，每种参数都可任意配置，实现主副四参数全6位显示，可扫描10种频率或电平列表，还可对3组用户频率进行校正，提高准确度。
	AT3817A精密100KHz数字电桥LCR	AT3817A 采用10Hz～100kHz连续频点，分辨率为0.001Hz。测试信号电平0.01Vrms～2.00Vrms，100.0μA- 20.00mA，纯直流信号源的DCR测量以及内部直流偏压±2.5V，同时可选外部偏置 AT3817A可同时对元件的4参数进行测试，每种参数都可任意配置，实现主副四参数全6位显示，可扫描10种频率或电平列表，还可对3组用户频率进行校正，提高准确度。
	AT3816A精密200KHz数字电桥LCR	AT3816A 测试频率采用10Hz～200kHz连续频点，分辨率为0.01Hz。测试信号电平0.01Vrms～2.00Vrms（10mV步进），##采用纯直流信号DCR测量，内部直流偏压(DC BIAS, ±2.5V)

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