吉时利 2602B 数字源表 Keithley 2602A Keithley 2602B 东莞市宸健电子科技有限公司

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产品名称：吉时利 2602B 数字源表 Keithley 2602A
产品型号：Keithley 2602B
产品展商：Keithley 吉时利
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简单介绍

2602B 是 Keithley 的 40 瓦源表。源表仪器是一种电子测试设备，可测量和记录**的电压和电流数据。源仪表以高精度收集信息，非常适合电流电压 (IV) 表征、半导体测试以及具有正电流源值和负电流源值的测试设备。

产品描述

东莞市宸健电子科技有限公司；销售+回收+租赁+维修产品：
数字示波器、网络/射频/频谱/矢量分析仪、信号源/信号发生器、色彩/光谱分析仪、音频/视频分析仪、无线电综合测试仪、数字源表/万用表、功率计/功率传感器、频率计、LCR/阻抗测量仪、逻辑分析仪、天馈/天线/线缆测试仪、交直流电源、WiFi蓝牙Wlan测试仪、数据采集仪、光波测量系统、多用表校准仪、静电/皮安/电阻表、EMC/EMI测试仪、电子负载、噪声测试仪、电工电能测试仪、半导体测试仪、各类电子通讯测试仪器及光学测量仪等仪器仪表。

吉时利2602B数字源表Keithley2602A

2602B 是 Keithley 的 40 瓦源表。源表仪器是一种电子测试设备，可测量和记录**的电压和电流数据。源仪表以高精度收集信息，非常适合电流电压 (IV) 表征、半导体测试以及具有正电流源值和负电流源值的测试设备。
特征：
40V、3A、40W 双通道型号，80W 功率输出
紧密集成的 4 象限电压/电流源和测量仪器以 6 ½ 位分辨率提供**的性能
内置的基于 Java 的测试软件可通过任何浏览器实现真正的即插即用 I/V 表征和测试。
TSP（测试脚本处理）技术将完整的测试程序嵌入仪器内部，以实现**的系统级吞吐量
无需主机的多通道并行测试的 TSP-Link 扩展技术
吉时利 2400 型数字源表 SMU 仪器的软件仿真
USB 2.0、LXI-C、GPIB、RS-232 和数字 I/O 接口
免费软件驱动程序和开发/调试工具
可选的 ACS-Basic 半导体元件表征软件

Keithley 2600B 系列系统 SMU 仪器是业界标准电流-电压源和测量解决方案，适用于高度自动化生产测试应用。双通道和单通道型号都紧密集成一个精密电源、真正电流源、数字万用表和具有脉冲生成功能的电子负载。另外，TSP® 技术可运行完整测试程序，适用于自动化系统应用，TSP-链路®技术允许菊花式链接*多 64 条通道，适用于大容量并行测试。

Keithley 2600B系列SMU 型号
型号通道 *大电流源/量程 *大电压源/量程测量分辨率（电流/电压）电源
2601B 1 10A 40V 100fA / 100nV 200 W
2602B 2 10A 40V 100fA / 100nV 200 W
2604B 2 10A 40V 100fA / 100nV 200 W
2611B 1 10A 200V 100fA / 100nV 200 W
2612B 2 10A 200V 100fA / 100nV 200 W
2614B 2 10A 200V 100fA / 100nV 200 W
2634B 2 10A 200V 1fA / 100nV 200 W
2635B 1 10A 200V 0.1fA / 100nV 200 W
2636B 2 10A 200V 0.1fA / 100nV 200 W

Keithley 2600B系列SMU 概述
完整的生产测试，无需牺牲空间
满足您的所有生产测试需求，在同一空间内有两条完全隔离的宽动态源和测量通道。每条 40 W 通道提供 6½ 位**分辨率源，在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内，测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
特点
在同一空间内可有 2 条通道
*宽的电压和电流动态范围
高度准确的 100 µs 脉冲可扩展直流生产测试能力

嵌入式脚本提供****的生产吞吐量
测试脚本处理器 (TSP?) 技术可在 SMU 仪器内嵌入和执行完整测试程序，提供业界*佳性能。
特点
消除与 PC 之间耗时的总线通信
**数据处理和流量控制
通用型探头/处理程序控制

系统性能，无主机
TSP-Link® 技术支持扩展多达 64 条通道，支持高速、SMU-per-pin 并行测试（而不使用主机）。 <500 ns 时所有通道同时独立受控。
特点
支持 <500 ns 通道间同步
可达 32 条或 64 条独立 SMU 通道
随着测试要求变化轻松重新配置

适合生产的*佳低电流性能
2635B 和 2636B SMU 在*低 100 pA 范围内提供 0.1 fA、10-16 分辨率，减少超低电平样本检定烦恼，确保生产成功。
特点
在*低电流范围内稳定时间快 7 倍
具有市面上的*佳低电流分辨率
直接三芯同轴连接简化了设置

典型应用
各种器件的I-V功能测试和特征分析，包括：
分立和无源元件
– 两抽头器件——传感器、磁盘驱动器头、金属氧化物可变电阻（MOV）、二极管、齐纳二极管、电容、热敏电阻
– 三抽头器件——小信号双极结型晶体管（BJT）场效应晶体管（FET），等等
简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传感器、转换器、稳压器
集成器件——小规模集成（SSI）和大规模集成（LSI） – 模拟IC
– 射频集成电路（RFIC）
– 专用集成电路（ASIC）
– 片上系统（SOC）器件
光电器件，例如发光二极管（LED）、激光二极管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面发射激光器（VCSEL）、显示器
圆片级可靠性
– NBTI、TDDB、HCI、电迁移
太阳能电池
电池
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