特点：
l 4测量频率：100kHz，10kHz，1kHz和100Hz。
l 一般精度在0.05%以内;损耗因素测量精度为2´10-4 。
l 特别适用于薄膜、箔、钽、陶瓷电容器，以及其它CLR应用。
l 内置触点检查功能。
l 高测试速度：从触发到测量结束，按频率不同只需20-180ms。
l 输入保护：2焦耳可达1KV。
l 测试范围：按频率不同从0.1pF到3mF。
l 测量可达9mF（0.2%）@100kHz。
l 测试电缆：标准测试电缆的长度为1.0m或39.3英寸
l 内部偏压：步程设为0.1V, 发电端子上可达
l ±3V DC。
l 平均：1—99次测量。
l 通过CE批准。
l 读数显示：显示直接或偏差的容量、损耗测试的损耗角或ESR值，以及L/Q、Rs、Rp，Z值。
详细说明
测试参数：Ｃ，Ｌ，Ｒ（串联或并联）
测试频率：用多种频率装置在100KHz, 10KHz, 1KHz,100Hz 测试。
测试电压
1V RMS - 100mF 在 100Hz
1V RMS - 10mF 在 1KHz
1V RMS - 1mF 在 10KHz
1V RMS – 0.1mF 在 100KHz
上述中：线路直度有利于减少阻抗（步程0.1V,*大1.5V RMS）
操作步程0.1V (*大1.5V RMS)
测试速度:
100Hz
1KHz
10KHz
100KHz
从触发到测试结束
180ms
20ms
从触发到数据显示
190ms
28ms
每种方式的额外时间（平均）
160ms
16ms
允许3ms接触反弹或１幅度变化
平均复合测试速度：各测试时间之和（从触发到测试结束为准计）+ 8ms 运算时间
测试电缆： 由Danbridge提供从仪表到测试夹具的1m(39.3英寸)电缆。
输入保护： ２焦耳*大到１ＫＶ，或４mＦ充电1000V。
偏压： 发电端口*高达±3.0V DC，设计步程0.1V（内部发电）。
电容
频率
精度±１
容量 损耗角
精 度
300pF- 3nF
3nF- 30mF
30mF- 300mF
300mF- 3mF
1pF- 39pF
40pF- 3.9mF
4mF- 399mF
400mF- 1mF
0.5%* ±,0010
0.05%* ±,0002
0.1% ±,0007
0.1% ±,0010
1% ±,0020
0.1pF- 3.9pF
4pF- 3.9mF
4mF- 39mF
40mF- 400mF
,03pF- ,9pF
1pF- ,9mF
1mF- 9mF
10mF- 40mF
0.05%** ±,0002
0.2% ±,0010
*精度：±0.2pF **精度：±0.1pF
电感
精度
10uH-100H
1uH-10H
0.1uH-1H
**参数0.1%
**参数±（0.1%+0.05*Q）
电阻
0.4W-40W
0.1%
40W-4MW
40W-1MW
0.05%
分选料箱： 用光藕合器,**参数12个限定，**参数4个限定
接口： 后面板： IEEE 488(GPIB)和RS232C
控制： 测试结束，数据显示，触发准备，不合格与属性。
触发输入： DC,AC,接触结束。
前面板： 设置PC及保存
环境： 室温： 10 - 30摄氏度
预热时间： 至少30分钟
电力： 90–130, 200–260 V AC, 50–60Hz 出口包装
校准间隙： 至少每隔１２个月。 欧洲 海外
规格尺寸： 高度： 140mm或5.5英寸 30cm 32cm
宽度： 438mm或17.2英寸 51cm 52cm
深度： 360mm 或14.2 英寸 56cm 55cm
重量： 16Kg 或36 1b 20kg 22kg