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产品资料

终端测试分类机

终端测试分类机
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:终端测试分类机
  • 产品型号:Model 3160
  • 产品展商:Chroma
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
3160/3160-A有着高可靠性的处理机制可依据测试需求支援各种不同类型封装的晶片, 且能与通用生产治具相容,顺畅的自动化技术满足高产能和低Jam Rate的量产要求。此 外,可调式的压测力和位置校正以及各种感应装置可降低待测物发生突如其来的损坏, 和帮助延长socket的使用期,同时保持或提升产能的良率。
产品描述
主要特色:
  • 9Kpcs 产能
  • 可设定的待测物间距
  • 可侧边安装tester
  • 压阀式受测物防护机
  • 智慧型IC残留检测
  • 测试良率控制
  • 通用治具
  • 工程级机台自动校正功能
  • 进阶版ESD标准
  • 1*4 DUT架构 (Model 3160)
  • 1*4或2*2 DUT架构 (Model 3160-A)
  • 空载盘自动堆迭 (选购) (Model 3160-A)
  • 主动式热控模组 (选购) (Model 3160-A)
  • 马达 Arm Z (Model 3160-A)
  • 气缸式侧推功能 (Model 3160-A)3160/3160-A是一款适合量产,高产出且多平行测试站点的高速IC测试分类机。此分类机 运用Pick & Place技术,能够配合多种封装类型并按照测试结果将它们排序分类予分料盘 中。 其高效率的模组化设计与精准的机构传动结构可确保在高速运作下,机台量测之重 覆性,并有助于增加机台使用之稳定性与维护之便利性。此外,其简洁的机台设计更可 节省机台于测试厂之占地面积,帮助客户大幅降低生产成本。进阶款3160-A更可按照客 户测试条件需求搭配Chroma*新研发的主动式热控模组(ATC)达到精准的常、高温测 试温度要求。
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