半导体测试系统

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苏州天仪科创机电科技有限公司
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	Keithley 自动化检定软件 ACS	吉时利自动化检定套件 (ACS) 是灵活的交互式软件测试环境，可用于器件检定、参数化测试、可靠性测试，甚至简单的功能测试。ACS 支持各种吉时利仪器和系统、硬件配置和测试设置，从用于 QA 实验室的一些台式仪器到完全集成且基于机架的自动化测试系统。利用 ACS，用户可使用自动硬件管理工具配置仪器，并快速执行测试，无需具备编程知识。
	半导体开关系统 707B	707B半导体开关系统，半导体器件的高速和低电流要求高质量、高性能的 I-V 和 C-V 信号开关。我们为半导体研发和生产测试应用提供开关解决方案，其中主机可以支持多达 2,880 个通道以及专为半导体应用而设计的一系列矩阵卡。
	半导体开关系统 708B	708B半导体开关系统，半导体器件的高速和低电流要求高质量、高性能的 I-V 和 C-V 信号开关。我们为半导体研发和生产测试应用提供开关解决方案，其中主机可以支持多达 2,880 个通道以及专为半导体应用而设计的一系列矩阵卡。
	氮化镓、碳化硅参数测试仪系统 S500	当今的模拟和功率半导体技术（包括 GaN 和 SiC）氮化镓、碳化硅要求进行参数测试，以便大限度提高测量性能、支持广泛的产品组合以及大限度降低测试成本。40 多年来，吉时利已经在关键应用中解决了这些问题以及其他重要挑战，这些应用包括工艺整合、工艺控制监控、生产芯片分类（例如，晶片验收或已知的良好芯片测试），以及可靠性。
	氮化镓、碳化硅参数测试仪系统 S540	当今的模拟和功率半导体技术（包括 GaN 和 SiC）氮化镓、碳化硅要求进行参数测试，以便大限度提高测量性能、支持广泛的产品组合以及大限度降低测试成本。40 多年来，吉时利已经在关键应用中解决了这些问题以及其他重要挑战，这些应用包括工艺整合、工艺控制监控、生产芯片分类（例如，晶片验收或已知的良好芯片测试），以及可靠性。
	氮化镓、碳化硅参数测试仪系统 S530	当今的模拟和功率半导体技术（包括 GaN 和 SiC）氮化镓、碳化硅要求进行参数测试，以便大限度提高测量性能、支持广泛的产品组合以及大限度降低测试成本。40 多年来，吉时利已经在关键应用中解决了这些问题以及其他重要挑战，这些应用包括工艺整合、工艺控制监控、生产芯片分类（例如，晶片验收或已知的良好芯片测试），以及可靠性。
	PCT参数波形记录仪 2600-PCT-4B	2600-PCT-4BPCT参数波形记录仪开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要**的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。
	PCT参数波形记录仪 2600-PCT-3B	2600-PCT-3BPCT参数波形记录仪开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要**的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。
	PCT参数波形记录仪 2600-PCT-2B	2600-PCT-2BPCT参数波形记录仪开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要**的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。
	PCT参数波形记录仪 2600-PCT-1B	2600-PCT-1BPCT参数波形记录仪开发和使用MOSFET、IGBT、二极管和其他大功率器件，需要**的器件级检定，如击穿电压、通态电流和电容测量。 Keithley参数波形记录仪（代替原晶体管图示仪）支持所有的设备类型和测试参数。Keithley参数波形记录提供高功率同步电流电压曲线测试（IV曲线测试）、电容电压曲线测试（CV曲线测试）和高功率脉冲IV曲线测量。
	半导体参数测试仪 4200A-SCS	4200A-SCS半导体参数测试仪加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是业内性能**电学特性参数分析仪，提供同步电流电压曲线测试 (I-V曲线测试)、电容-电压曲线测试 (C-V曲线测试) 和超快脉冲 I-V曲线测量。

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