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测试系统

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  • 产品名称:测试系统
  • 产品型号:58173
  • 产品展商:Chroma
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
Chroma 58173 是一组全新独特的量测 LED 全光 通量之自动化测试系统。在LED的裸晶与晶粒测 试生产线中,常见使用部份光通量来取代全光通 量之量测方式 (见图1)。
产品描述

测试系统主要特色:
  • 提供全方位电性测试 (200V/2A) ,可满足HV及HP测试
  • Chroma大面积光侦测器(量测角度可达128度)
  • 半自动精密LED wafer/chip点测设备
  • 特制Edge Sensor具有点测针压稳定,无疲乏与针压变动问题
  • 机械视觉定位系统,缩短人工操作时间
  • 自动抽测功能
  • 弹性调整的软体操作界面
  • 快速芯片扫描系统
  • 自动破片扫描演算法
  • 遮光罩设计,杜绝背景光干扰
  • 即时显示点测资料分布图
  • 完善的量产测试统计报表及分析工具


硬体设备

  • 半自动 LED wafer/chip 点测设备
  • 漏电流测试模组
  • 电源量测单元
  • 光学测试模组
  • ESD 测试模组 (选配)

Chroma 58173 是一组全新独特的量测 LED 全光 通量之自动化测试系统。在LED的裸晶与晶粒测 试生产线中,常见使用部份光通量来取代全光通 量之量测方式 (见图1)。然而,传统的方式存在 一些缺点,例如:准确度较低、讯噪比较低、测 试时间较长等,以致于导入LED 的裸晶与晶粒生 产线时会发生问题。

致茂研发出一种全新、高速且高**度之 LED 全光通量之量测方式(见图2)。 这种**的量测 方式不仅比传统方式收集更多的 LED 部分光通 量,也明显的改善提升了量测**度。

在光学量测方面,主波长、峰波长、色温等均可 透过致茂独特的光学设计与元件取得**且稳定 快速之数据;在机构方面,58173 搭载一个6吋 的晶片载盘与校正基座,提供使用者一个完整 的校正与测试平台;在电性测试方面,58173 则 具备完整之电源量测单元,无论顺向电压、漏电 流、逆向崩溃电压等 LED 电性特性,均可于一 次满足使用者的测试需求。


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