Keithley 自动化检定ACS软件
ACS的特点是脚本编辑器，这是一个独立的工具，带有图形用户界面，用于开发Python代码和TSP®脚本，进行仪表控制、数据分析和系统自动化操作。其提供创建和开发 GUI 设计以及管理用户库和模块的直观方法。
ACS的晶圆探针自动化选项使您能够轻松将各种常用的半自动或全自动晶片探针台连接到测试设置中，从而可以快速捕获大量数据。此选项包括晶片描述实用程序、具有晶片评等功能的实时晶片图、暗盒样品计划实用程序以及测试后暗盒和晶片查看实用程序。ACS 内置的许多工具和功能都可以增强设备的自动检定能力
ACS提供了一组通用的关键元素，可以跨多种硬件配置工作，从而减少了时间并提高了生产率。系统从一个硬件到另一个硬件实现的执行是一致的，因此，例如，很容易将用于单设备组件表征的基础ACS系统的你的测试结果转移到另一个设计用于晶圆级测试的系统。
ACS中的工具简化了测试开发流程，*大限度地提高了与系统相连的每个Keithley仪器的速度。ACS 和 Keithley 基础TSP的硬件一起提供了超高的吞吐量，从而降低了测试成本，不需要您在获得实现目标所需的数据之前花时间学习新的编程概念或语言。
注：
ACS基础版集成测试系统是参数化拣选、高功率半导体器件检定和晶片级可靠性测试等应用的完整解决方案。当配合适合的半自动和全自动探针台，它们的硬件配置和测试项目开发可以很容易地针对特定的任务进行优化。
使用 Keithley 高功率系统 SMU 仪器和 ACS 基础版软件测试功率半导体设备的应用指南
ACS 多站点并行测试集成测试系统应用指南
可靠性测试可提高质量、降低故障率、确保高产量并增加信心。ACS 软件支持用于高容量可靠性测试的 Shared Stress 方法，加快了测试时间。
使用 ACS 进行 Shared Stress 可靠性测试应用指南
2182A/622X 组合非常适合许多纳米技术应用，因为它测量电阻时可以不消耗被测器件 (DUT) 的太多功率，否则可能会导致结果无效，甚至损坏 DUT。使用 ACS 软件执行增量模式测试，将这些敏感的测量结果整合到测试系统中。
Keithley 6200/2182A 系列超低电阻配置
由于GaN HEMT的“常开”特性，在进行I-V特性分析时需要一个特定的电源时序。ACS软件支持在不破坏器件本身的I-V特性的情况下，对器件的GaN HEMT特性进行电源时序测试。
GaN HEMT 检定的电源时序应用指南
Keithley 自动化检定ACS软件半导体工作流程解决方案
ACS Basic Edition 和 ACS Standard Edition 软件在整个半导体工作流程中均用于对半导体器件进行广泛的测试，以获得详细的检定。整合 ACS Basic 和 ACS Standard 的测试系统可提供：
ACS Basic Edition 软件*适用于组件和分立（封装）半导体器件的参数测试。该软件运用以下特点，*大限度地提高了技术人员与工程师在研发方面的生产力：
集成阶段使用 ACS Standard Edition 软件进行半自动晶圆测试，包括稳定的过程开发和晶圆级可靠性 (WLR)。该软件可用于 SMU-per-pin 系统级测试。ACS WLR 软件提供以下好处：
ACS 标准版软件还适用于完全集成的机架式自动定制测试系统，用于过程控制监控 (PCM)、晶圆验收测试 (WAT) 和晶粒挑拣。ACS Standard 软件中内置的许多工具和功能可增强 设备的自动检定能力：
苏公网安备 32050802010778号
