您好,欢迎来到仪表展览网!
请登录
免费注册
分享
微信
新浪微博
人人网
QQ空间
开心网
豆瓣
会员服务
进取版
标准版
尊贵版
|
设为首页
|
收藏
|
导航
|
帮助
|
移动端
|
官方微信扫一扫
微信扫一扫
收获行业前沿信息
产品
资讯
请输入产品名称
噪声分析仪
纺织检测仪器
Toc分析仪
PT-303红外测温仪
转矩测试仪
继电保护试验仪
定氮仪
首页
产品
专题
品牌
资料
展会
成功案例
网上展会
词多 效果好 就选易搜宝!
美国PSS(Particle Sizing Systems)粒度分析仪公司
新增产品
|
公司简介
注册时间:
2004-04-05
联系人:
电话:
Email:
首页
公司简介
产品目录
公司新闻
技术文章
资料下载
成功案例
人才招聘
荣誉证书
联系我们
产品目录
DEBEE超高压纳米微射流均质机
NANO-DEBEE
动态/静态激光光散射仪(DLS/SLS)
粒度分析仪
当前位置:
首页
>>>
产品目录
>>>
动态/静态激光光散射仪(DLS/SLS)
仪表展览网
>>>
展馆展区
>>>
超细微粒粒度检测仪
>
超细微粒粒度检测仪
产品资料
超细微粒粒度检测仪
如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称:
超细微粒粒度检测仪
产品型号:
产品展商:
其他品牌
产品文档:
无相关文档
简单介绍
1.量程范围: 2 nm -- 5 μm 2.温度范围:10 -- 70℃(默认23℃) 3.检测角度范围:12 -- 150°(默认90°) 4.样品浓度范围:≤1% 体积 5.PH范围:2 -- 12
产品描述
Nicomp 380检测仪,采用了先进的动态激光散射的技术,并使用大功率的He-Ne红色激光光源,为检测提供了更高的**度,真正做到直接检测而无需校正。具有**技术的Nicomp分析方法,大大提高了对多组分、粒径分布不均匀样品分析的性能,使其在分辨率及重现性方面达到了其他同类产品所无可比拟的高度。为了满足所有客户的不同需要,Nicomp 380*早采用先进的模块化设计。使用户在实现粒径分析功能的同时,通过添加其他附加功能模块,获得其他相应的性能。
可供选择的附件有:
Zeta电位检测模块;
自动稀释(**)功能;
自动进样和在线检测功能;
多角度检测选项等。
产品留言
标题
联系人
联系电话
内容
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!
温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买前务必确认供应商资质与产品质量。
免责申明:以上内容为注册会员自行发布,若信息的真实性、合法性存在争议,平台将会监督协助处理,
欢迎举报
产品留言
标题
内容
联系人
联系电话
电子邮件
公司名称
联系地址
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!
相关产品
超细微粒粒度检测仪
粒度分布及Zeta电位检测仪
若网站内容侵犯到您的权益,请通过网站上的联系方式及时联系我们修改或删除