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产品资料

X射线荧光分析仪EDX-GP[产品打印页面]

X射线荧光分析仪EDX-GP
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:X射线荧光分析仪EDX-GP
  • 产品型号:EDX-GP
  • 产品展商:日本岛津
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
X射线荧光分析仪EDX-GP是*适合用于RoHS/ELV/无卤素法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧X射线荧光分析装置EDX-GP光分析装置。   **次使用EDX-GP,也能轻松操作,操作简便且以更高的精度进行微量分析,达到*高灵敏度与*佳分辨率的**结合。   EDX-GP标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能,用户无需购买特殊选购件,使可以获得*佳RoHS/ELV/无
产品描述


华东总代理

EDX-GP是*适合用于RoHS/ELV/无卤素法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。

  **次使用,也能轻松操作,操作简便且以更高的精度进行微量分析,达到*高灵敏度与*佳分辨率的**结合。

 

  标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能,用户无需购买特殊选购件,使可以获得*佳RoHS/ELV/无卤素分析系统.

测试步骤:

 

操作简便,一个指令即可开始全自动测定。
测定条件的选择过去一直依赖操作者的判断,现在改由装置自动判断,即使初学者也可简便·高精度地测定。

 
1st Step
放置样品
将样品放在分析位置,利用样品图像观察装置确认分析位置。
选择分析区域。
关闭样品室。
 
2nd Step
选择分析条件/输入样品名称
一个画面中可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。
点击开始。
3rd Step
显示分析结果
测定结束后,画面上将清楚显示5种元素的[合格判定]、[含量]、[3σ(测定偏差)]。
点击即可显示[结果列表]或[创建报告书]。

只需1次点击,便可根据预先登录的分析条件,
自动执行从测定到结果的一系列操作。

 
■ 校准曲线自动选择功能
不含有害元素时,测定过程中能够判定结果时,即自动终止测定,缩短分析时间。
 
省时功能

不含有害元素时

不含有害元素时,测定过程中能够判定结果时,即自动终止测定,缩短分析时间。
■ 适用省时功能的缩短时间示例

 

含量低于检出下限值时,判断不含有,测定自动结束。上述样品中Pb、Cd的含量均低于检出下限,与设定的200秒(=100秒+100秒)分析时间相比,仅用了50秒(=25秒+25秒)即结束分析,大幅度节约了时间。

 
有害元素含量高时

由设定的目标管理精度自动决定测定时间。
在测定精度达到管理值时结束测定。

■ 适用省时功能的缩短时间示例

测定高浓度元素时,在比设定的测定时间更短的时间内即可获得高强度,而且误差变小,由此可以大幅缩短时间。上述样品中Pb:7600ppm、Cd:52ppm,设定的分析时间为200秒(=100秒+100秒),实际仅用了40秒(=15秒+25秒)即结束分析,大幅度节约了时间。

EDX-GP标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能,用户无需购买特殊选购件,就可以获得*佳RoHS/ELV/无卤素分析系统。
 
标准配置改变照射直径的准直器&样品图像观察组件

测定异物或者测定包含多个部位的样品时,通过样品图像观察组件在观察样品的同时,可以简单的设定分析位置。测定小样品或样品中特定位置时,可以使用准直器,更改X射线照射区域。
(1, 3, 5, 10 mmφ)


10mmφ图像(塑胶)
 
3mmφ(金属)
 
 

形状校正功能

即使含量相同的样品,在形状和厚度不同时,X射线强度将发生变化,得到的定量值也会受到影响,EDX-GP通过使用BG内标法*,可以排除形状和厚度的影响,取得高精度结果。
BG内标法
通过散射X射线强度使各元素的X射线荧光强度标准化的一种校正方法。
 
测定结果列表管理
创建列表功能
已保存数据可以用Excel形式列表显示。
超大样品室可以对应各种样品形态及大小。
 

采用超大样品室

*大可以放置370mm长×320mm宽×155mm高的大型样品,令紧凑型机身望尘莫及。

 

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