1 近场扫描光学显微镜NSOM操作模式: 透射模式，反射模式，收集模式，照明模式 2 原子力显微镜AFM操作模式: 敲击模式，接触模式选配，所有探针或样品扫描的AFM操作模式 3 微分干涉对比DIC : 反射和透射 4 折射率成像Refractive-Index Profiling: 反射和透射 5 在线远场共聚焦和拉曼及荧光光谱成像: 反射和透射，针对选择性拉曼散射超薄膜的探针增强拉曼散射 6 热传导及扩展电阻成像: 接触模式，敲击模式，音叉反馈模式无反馈激光引入干扰信号,选配；热探针可作为纳米加热器使用，纳米热分析、纳米相转变等应用 ＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊
SPM扫描头规格 1 样品扫描器：压电材料制薄片扫描器 3D Flat Scanner™；厚度为7毫米 2 SPM扫描范围： 样品扫描，*大100 microns XYZ 3 扫描分辨率： < 0.005 nm Z < 0.015 nm XY < 0.002 nm XY 低电压模式 4 粗调定位范围：6毫米 5 反馈机制：悬臂梁光束反弹反馈，音叉反馈选配 6 样品尺寸：标准配置下,直径*大至16毫米；正置显微镜下使用,直径*大至34毫米 特殊样品形状：如竖直样品进行边缘成像等 7 探针：各种针尖外露的玻璃探针，各种常规悬臂梁硅探针均可使用 ＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊＊
成像分辨率1 远场： 受光衍射几何限制 2 光学： 500纳米 3 共聚焦： 200纳米 4 近场扫描光学： 100纳米，极端条件下可达到50纳米由探针孔径决定 5 形貌： Z向噪声0.05纳米 rms；XY横向分辨率：由针尖直径和样品的卷积决定 6 热成像： 100纳米起，温度灵敏度0.01ºC，300 ºC或更高由样品决定 7 电阻成像： 25纳米