Nanonics AFM系列电镜之－MultiView1000 技术参数
1、扫描方式：针尖扫描或样品扫描，AC模式，接触模式以及所有标准AFM模式 2、分辨率： < 0.005 nm (Z方向) < 0.015 nm (XY方向) < 0.002 nm (XY方向) 低压模式 3、扫描范围: XY方向70um、Z方向70－120um，另外有30um和10um扫描器选配 4、扫描步进：70um扫描器＜1nm、10um扫描器＜0.1nm 5、扫描器厚度：7mm；重量：75克 6、*大样品尺寸：半径16mm，另根据客户需求可以选配任何合理尺寸； ********************************探针******************************* *大特点：所有的商业化的探针均适用于当前的Nanonics NSOM操作 ※NSOM探针 ※AFM探针 ※研究超低弹性模量的AFM探针 ※专用于深沟的AFM探针 ※中空的AFM探针 ※玻璃绝缘的AFM传感纳米线 ※双线玻璃绝缘探针 ※普通模式SPM探针 *******************************操作模式***************************** ※NSOM反射模式 ※NSOM透射模式 ※NSOM收集模式和收集暂时场模式 ※NSOM荧光模式 ※NSOM-PL模式 ※三维共聚焦成像（透射、反射、荧光） ※非接触式NSOM、液体（生物样品）NSOM ************************Nanonics Analog控制器************************ ※软件包-NT,Win95/98,XP兼容； ※实时图像显示，图像获取（高达8通道）及分析，3D处理； ※LabVIEW软件包拥有4通道的数据采集功能；
主要特点
*******************************应用范围宽**************************** 1、表面和材料科学 微纳米结构表征、粗糙度、摩擦力、高度分布、自相关评估、软性材料的弹性和硬度测试 2、生物应用 液体中完整活细胞成像、细胞膜孔隙率和结构表征 3、薄膜表征 孔隙率分析、覆盖率、附着力、磨损特性、纳米颗粒、岛屿分布 4、硬盘检查 表面检查和缺陷鉴定、磁畴成像、摩擦力和磨损方式和读写头表征 5、半导体制造中的测试 高分辨率地定量结构分析以及掺杂浓度的分布等各种材料特征 6、失效分析 缺陷识别、电性测量和键合电极大摩擦特性等 ********************************测试独特**************************** 1、测试环境控制NSOM，至液氦温区和超高真空度 2、环境控制操作与光学显微镜、微拉曼等完全兼容 3、独有的电学及热学测量
NANONICS IMAGING LTD. （以色列NANONICS有限公司）是业界将近场光学显微镜(NSOM)技术和原子力显微镜(AFM)相技术相结合的领头羊。公司成立于1997年，NANONICS是业界成立*久并且对此类系列产品经验*丰富的公司之一，其产品荣获过许多国际大奖。在强大的NSOM/AFM的整合操作系统的推动下，今天NANONICS继续以强大的优势和**的系统领导着市场。NANONICS凭借着实力和品质，其产品涉足的领域从科研到工业，从生物学到半导体，从化学制品到无线电通讯，应用范围极其广泛。 低温NSOM/AFM拥有先进的系统设备、环境友好的样品反应室、化学药品和气体自动传送系统；还有nano-印刷术系统，给消费者提供一个**的系统配置选择。加上有AFM/NSOM/SEM的整合与AFM/NSOM/micro-Raman的整合系统这样强大的成象结合，可以让用户拥有**的实验平台来完成所有的材料表征应用。探针包括NSOM探针，micro-pipettes是检测热、电性能的，同时探针还可以提供气体和液体加样，这是Nanonics系列产品的特色功能，可以为提供用户在很小的范围内做原位反应等。NAONICS系统兼容可所有供应商提供的SPM探针。 Nanonics仪器设计的特点就是将不同的表征手段整合到一个平台，包括spm、微拉曼光谱、电镜、共聚焦显微镜、离子束、热分析、SHG等等都能实时或一起使用。