超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
技术参数
项目名称
Leeb332
示值误差
±（1%H+0.1）mm H为被测物体实际厚度
测量范围
0.75~350mm（钢，由探头决定，标配探头范围1~250mm）
显示分辨率
0.01mm
声速范围
1000~9999m/s
存储
2000组
使用环境
-10~60℃（非高温探头） -10~300℃（高温探头）
PC通讯
有
电源
AA型碱性电池2节
工作时间
100小时
壳体材料
金属外壳
外形尺寸
130*70*25 mm
重量
450g
标准配置
主机、L51探头、碱性电池2节、耦合剂
可选配件
各类探头、耦合剂、打印纸
苏公网安备 32050802010746号