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ATX210覆层测厚仪
日期：2024-11-04 06:54
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摘要：ATX210覆层测厚仪概述
ATX210覆层测厚仪是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量；既可用于实验室，也可用于工程现场；广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；是材料保护专业必备的仪器。
ATX210覆层测厚仪符合以下标准：
GB/T4956-1985 磁性方法
GB/T4957-1985 涡流方法
JB/T8393-1996 磁性和涡流覆层测厚仪
JG889-95 《磁阻法测厚仪》
JJG818-93 《电涡流式测厚仪》
ATX210覆层测厚仪
ATX210覆层测厚仪功能特点
采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金等)上非磁性覆层厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)，非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚度(如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等)
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
设有五个统计
