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ATX220涂层测厚仪

日期：2024-11-23 21:08
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摘要： ATX220涂层测厚仪是一款便携式涂镀层测量仪，它能快速、无损伤、精密的进行涂镀层厚度的测量。即可用于实验室，也可用于工程现场。通过更换不同的侧头，还可以满足多种测量的需要。ATX220涂层测厚仪能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专用必备的仪器。 ATX220涂层测厚仪符合以下标准： GB/T4956-1985 磁性方法 GB/T4957-1985 涡流方法 JB/T8393-1996 磁性和涡流覆层测厚仪 JJG889-95 《磁阻法测厚仪》 JJG818-93 《电涡流式测厚仪》
ATX220涂层测厚仪概述
       ATX220涂层测厚仪是一款便携式涂镀层测量仪，它能快速、无损伤、精密的进行涂镀层厚度的测量。即可用于实验室，也可用于工程现场。通过更换不同的侧头，还可以满足多种测量的需要。ATX220涂层测厚仪能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专用必备的仪器。

ATX220涂层测厚仪符合以下标准：

  • GB/T4956-1985 磁性方法
  • GB/T4957-1985 涡流方法
  • JB/T8393-1996 磁性和涡流覆层测厚仪
  • JJG889-95 《磁阻法测厚仪》
  • JJG818-93 《电涡流式测厚仪》

ATX220涂层测厚仪

ATX220涂层测厚仪功能特点
  • 采用了磁性和涡流两种测厚方法：既然无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金等)上非磁性覆层厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）又可测量非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚度(如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等)
  • 可使用7种测头（F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1）
  • 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
  • 具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（A-B）
  • 设有五个统计量：平均值、*大值（MAX）、*小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
  • 可采用两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
  • 具有存贮功能：可存贮600个测量值
  • 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据
  • 可设置限界：对限界外的测量值能自动报警
  • 具有电源欠压指示功能
  • 操作过程有蜂鸣声提示
  • 具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示
  • 设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式
  • 采用塑料外壳，轻便、耐用
ATX220涂层测厚仪技术参数
  • 测头类型：可选，见涂层测厚仪探头参数表
  • 测量范围：0-1250um | 0-1250um 0-40um(铜上镀铬)
  • 低限分辨力：0.1um
  • 探头连接方式：分体
  • 示值误差：F | N
            1.  一点校准(um)：±[2%H+1]
            2.  两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1]
            3.  一点校准(um)：±[2%H+1.5]
            4.  两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
  • 测量条件：F | N
           1.  *小曲率半径(mm)：凸1.5 | 凹9
           2.  基体*小面积的直径(mm)：ф7
           3.  *小临界厚度(mm)：0.5
           4.  *小曲率半径(mm)：凸3 | 凹10
           5.  基体*小面积的直径(mm)：ф5
           6.  *小临界厚度(mm)：0.3
  • 温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
  • 统计功能：平均值、*大值（MAX）、*小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
  • 工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
  • 测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
  • 上下限设置：有
  • 存储能力：500个测量值
  • 关机方式：手动和自动
  • 电源：两节1.5v电池
  • 外形尺寸：50×120×25mm
  • 重量：400g
ATX220涂层测厚仪基本配置
  • ATX220涂层测厚仪主机
  • F测头或N测头
  • 标准片一套
  • 铁基体或铝基体
  • 电池
  • 使用说明书
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