一、用途： XPN-300偏光显微镜熔点仪、偏光温控仪是地质、矿产、冶金等部门和相关高等院校*常用的专业实验仪器。偏光显微镜可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。偏光显微镜配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件还可用于化工化纤、半导体工业以及药品检验等领域。偏光熔点测定仪采用微电脑检测，有自动P、I、D调节，及模糊手动调节功能，偏光熔点测定仪通过 LED显示温度值及设定温度值。
二、系统简介 偏光显微镜熔点仪系统是将精密的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、**的计算机图像处理技术**地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以显示屏上很方便地观察实时动态图像，并能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。 三、技术参数： 1．目镜
类别
放大倍数
视场（mm）
平场目镜
10X
φ22
十字目镜
φ20
2．物镜
数值孔径（NA）
工作距离（mm）
盖玻片厚度（mm）
物?镜
4X
0.10
7.18
-
0.25
4.70
0.17
40X
0.65
0.72
60X
0.85
0.18
3.放大倍数：40X 100X 400X600X 系统放大倍数：40X-2600X 4.聚光镜数值孔径：NA1.2/0.22摇出式消色差聚光镜，中心可调 5.起偏镜：振动方向360°可调，带锁紧装置，可移动光路 6.检偏镜：可移出光路，旋转范围90°，内置勃氏镜，中心可调 7.补偿器：λ片（Ф18mm，**红，光程差551nm） λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm） 石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ级） 8.调焦系统：带限位和调节松紧装置的同轴粗微动，微动格值 0.002mm 9.电光源：6V/20W 卤素灯（亮度可调） 10.防霉：特有的防霉系统 四、偏光熔点测定仪 1.偏光熔点测定仪 在 20X 物镜下工作温度可达到*高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制；温度程序段由用户自行设定，30段温度编程，循环操作，能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度，及在该段内可维持时间，升温速率可调、精度±0.3 ℃、记忆点读数。 2.显微加热平台 可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1起始温度室温工作区加热使用面积至少1X1cm工作区温度梯度不超过 ±0.1oC透光区域 2mm以上，可调显示温度与实际温度误差不超过± 0.2热台可以随载物台移动 熔点测定 温度超过100度时，25X的物镜工作距离太近，容易损坏镜头，请选用长工作距离的 20X、40X 物镜 五、系统组成 电脑型高精度偏光显微镜（XPN-300E）：1、显微镜2、熔点仪3、摄像器(CCD) 4、A/D(图像采集)5、计算机 数码相机型高精度偏光显微镜（XPN-300Z）：1、显微镜2、熔点仪3、数码相机 六、选购件 1、高像素成像系统2.偏光显微镜分析软件3.物镜：20X