Agilent 4294A阻抗分析仪仪器信息港

Agilent 4294A阻抗分析仪

简单介绍

Agilent 4294A阻抗分析仪工作频率40Hz到110MHz,1mHz分辨率；基本阻抗精度：±0.08%；阻抗参数：Z、Y、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q；直流偏置：0到±40V/100mA；测量信号的电平：5mV到1Vrms;200μA到20mArms。咨询电话：。

产品描述

Agilent 4294A 是适用于电子元器件的设计、论证、质量控制和生产测试的强大工具。电路设计和开发工程师也能从它提供的性能和功能中受益。此外，4294A 出色的测量性能和功能为电路设计与开发、材料研究与开发 (电子材料和非电子材料) 环境提供了功能强大的工具。

Agilent 4294A阻抗分析仪特点：

元器件测量	无源器件	测量两个端口或引线的器件的阻抗，包括电容器、电感器、铁氧体磁珠、电阻器、变压器、晶体/陶瓷谐振器、多芯片模块或阵列/网络元器件。
	半导体元件	变容二极管的 C-V 特性分析对二极管、晶体管或 IC 封装端子/引线的寄生参数进行分析。放大器输入/输出阻抗测量。
	其他元器件	测量印刷电路板、继电器、开关、电缆和电池等元件的阻抗。
材料的测量	电介质材料	测量塑料、陶瓷、印刷电路板及其它电介质材料的介电常数和损耗角正切值。
材料的测量	磁性材料	测量铁氧体、非晶硅和其它磁性材料的导磁率和损耗角正切值。半导体材料半导体材料的电容率、导电性和 C-V 特性。

Agilent 4294A阻抗分析仪技术参数：

工作频率	40 Hz 到110 MHz, 1 mHz 分辨率
基本阻抗精度	± 0.08%
Q 精度	Q = 100、测量频率小于10 MHz 时, ± 3% ( 典型值)
阻抗范围	3 mΩ 到500 MΩ*1
测量时间	测量频率大于500 kHz 、分辨率带宽= 1 ( 快速测量模式) 时, 3 ms /点
每次扫描点数	2 到801 个点
测量类型	四端子对测量(标准) 7 毫米毫米单端口测量(使用42942A), 可测量接地器件使用高阻探头测量(使用42941A), 可测量接地器件
阻抗参数	IZI、IYI、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q
直流偏置	0 到± 40 V/100 mA, 1 mV/40 μA 分辨率恒定电压/ 恒定电流模式, 直流偏置V/I 监测功能
测量信号的电平	5 mV 到1 V rms; 200 μA 到20 mA rms 测量信号电平V/I 监测功能
扫描参数	频率、测量信号的电平(V/I)、直流偏置(V/I)
扫描类型	线性、对数、列表: 手动扫描模式: 向上/向下扫描
其他功能	等效电路分析功能，限制线功能迹线累加模式
游标	8 个游标(1 个主游标和7 个子游标) 差值游标功能，游标搜索功能 (大、小、峰值、下一峰值等) 游标分析功能

本页面标题：Agilent阻抗分析仪 4294A

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