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第13年
- 入驻时间： 2008-06-23
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产品详情
简单介绍：
BSD-PS2型比表面积和介孔分析仪
比表面积和介孔分析仪性能简介：
测试方法： 静态容量法
详情介绍：
比表面积和介孔分析仪理论与报告内容：
1、吸附、脱附等温线；
2、BET单点法比表面SBET-O
3、BET多点法比表面SBET-M ，BET常数CBET
4、朗格缪尔（Langmuir）比表面S Langmuir ，朗格缪尔平衡常数b Langmuir
5、统计吸附层厚度法外比表面（STSA）S外
6、粒度估算报告和真密度；
7、BJH法孔容孔径分布；
8、MK-plate法（平行板模型）孔容孔径分布（为BJH法的补充，适合对片层状结构材料分析）；
9、t-plot法（Boder）微孔分析；
10、MP法(Brunauer) 微孔分析；
11、D-R法（Dubinin- Astakhov）微孔分析；
比表面积和介孔分析仪特点：
测试精度： 测试精度高、重现性好。重复性误差小于±2%；
测试范围：比表面0.01m2/g以上，孔径0.35-400nm；样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。
分析站数量：具有2个样品分析站，1个P0测试站，2个样品脱气站；2个分析站具有独立的气路与压力传感器，支持同时进行不同样品不同过程的测试；
P0测试：具有独立的饱和蒸汽压（P0）测试站，保证分压测试的高准确性；
样品预处理： 主机自带一体式脱气装置，同时处理样品数量：2；两路脱气站具有独立温控，并具有独立定时功能，可支持与测试同步进行的不同温度与不同时间的样品脱气处理；
样品预处理模式：具有国内的“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；分子置换模式相对分子扩散模式效率提高1倍以上，可节省一半以上的预处理时间，解决以往静态法样品制备时间长的问题；
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