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比表面及孔径分析性能参数
测试理论 |
吸附、脱附等温线; BET单点法,多点法比表面; 朗格缪尔(Langmuir)比表面; 统计吸附层厚度法外比表面; BJH法孔容孔径分布; MK-plate法(平行板模型)孔容孔径分布; D-R法微孔分析; t-plot法(Boder)微孔分析; H-K法(Original)微孔分析; MP法(Brunauer) 微孔分析; 真密度测试; 粒度估算报告; |
测试精度 |
比表面及孔径分析重复性误差小于±1.5%; |
测试范围 |
比表面0. 01m2/g以上,微孔;0. 35-2nm、介孔:2nm-50nm、大孔:50nm-500nm; |
分 析 站 |
1个分析站,1个P0站,2个处理站; |
独 立P0 |
比表面及孔径分析具有独立的饱和蒸汽压(P0)测试站,保证分压测试的高准确性; |
气路系统 |
贝士德**的BEST多路歧管系统,对控制阀门进行整体集成设计,无任何螺纹密封及管路压接或焊接接口,将真空管路减少到极限,彻底消除漏气点,整个系统漏气率低于10-10Pa*m3/s,,密封性提高5倍以上,达到进口**仪器水平,极大的提升了仪器的稳定性和**度;气路系统各部分统筹进行模块化组装,极大减少故障率,大幅增强仪器稳定性。 |
气控阀 |
采用原装进口日本SMC气控阀,彻底杜绝因电磁阀发热产生的气体受热膨胀问题。 |
管路通径 |
大通径是高真空的必备条件,脱气位和测试位采用大通径阀门和管路,使真空泵的极限真空得到*大效果的体现。 |
真空系统 |
仪器配备两套独立的真空系统,既脱气系统和分析系统相互独立;极限真空达到10-2Pa,避免由一套真空系统而带来的污染问题; |
压力测量 |
原装进口电容硅薄膜双压力传感器,分段测试:0-1000torr,0-1torr;读数精度误差≤0.15%,为目前压力传感器的*高精度;大孔段具有P0的实时测试功能,使P/P0在趋于灵界点时的控制精度达到0.998; |
预 处 理 |
2路脱气站具有独立温控(常温-400OC,随意设置),并具有独立定时功能,可支持与测试同步进行的不同温度与不同时间的样品脱气处理; 具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能;分子置换模式相对分子扩散模式效率提高1倍以上,可节省一半以上的预处理时间,解决以往静态法样品制备时间长的问题; |
样品类型 |
粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。 |
液位控制 |
比表面及孔径分析贝士德**的液氮面伺服保持系统,消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化,提高测试精度; |