配置开放式样品腔二维移动样品平台探测器和X光管上下移动可实现三维移动双激光定位装置准直器自动切换装置玻璃屏蔽罩正比计数盒探测器信号检测电子电路高低压电源X光管计算机及喷墨打印机样品腔尺寸：517mm×352mm×150mm外型尺寸：648mm×490mm×544mm
2、技术指标：
2．1 ● 工作温度：15-30℃ ● 电 源：AC :220V ±5V
2．2 元素分析范围从钾K到铀U
2．3 一次可同时分析多层镀层
2．4 分析厚度检测出限*高达0.01um ，多次测量重复性*高可达0.01um
2．5 长期工作稳定性小于0.1um ( 5um左右单镀层样品 )
2．6 测量时间：60-300秒
3、仪器硬件部分主要配置：
3．1 正比计数盒探测器
3．2 ● X 光管 ●高、低压电源 ● MCA多道分析器
3．3 ●开放式样品腔●二维移动样品平台●探测器和x光管上下移动可实现三维移动
3．4 ●双激光定位装置●准直器自动切换装置●玻璃屏蔽罩●信号检测电子电路
3．5 计算机及喷墨式打印机
4、仪器软件配置：
4.1、测厚分析软件（配送）
功能介绍：检测、分析镀层的厚度和成分, 可分析单镀层、多镀层以及合金镀层, 具有多种镀层的分析方法, 可做同时显示英制和公制单位
4.2、全元素分析软件（可选购）