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产品资料

Thick 800 X荧光光谱仪

Thick 800 X荧光光谱仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:Thick 800 X荧光光谱仪
  • 产品型号:Thick800
  • 产品展商:其它品牌
  • 产品价格:188000.00 元
  • 折扣价格:0.00 元
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
Thick 800 X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定,它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计,而是采用上照式,通过三维的移动和激光定位,实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量应用领域:黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测;金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;贵金属加工和首饰加工行业;银行、首饰销售和检测机构;电镀行业。
产品描述

 

Thick 800 X荧光光谱仪技术指标:
元素分析范围:从K到U
一次性可同时分析多层镀层
分析厚度检测出限*高达0.01um
同时可分析多达5层以上镀层
相互独立的基体效应校正模型,*先进厚度分析方法
多次测量重复性*高可达0.01um
长期工作稳定性小于0.1um(5um左右单镀层样品)
温度适应范围:15
~30
输出电压220±5V/50HZ(建议配置交流净化稳压电源)

 

配置
开放式样品腔
二维移动样品平台
探测器和X光管上下移动可实现三维移动
双激光定位装置
准直器自动切换装置
玻璃屏蔽罩
正比计数盒探测器
信号检测电子电路
高低压电源
X光管
计算机及喷墨打印机
样品腔尺寸:517mm×352mm×150mm
外型尺寸:648mm×490mm×544mm

2、技术指标:

  2.1   ● 工作温度:15-30            ● 电    源:AC :220V ±5V 

2.2  元素分析范围从K到铀U

2.3  一次可同时分析多层镀层

2.4  分析厚度检测出限*高达0.01um ,多次测量重复性*高可达0.01um

2.5  长期工作稳定性小于0.1um ( 5um左右单镀层样品 )

2.6  测量时间:60-300秒

3仪器硬件部分主要配置:

3.1   正比计数盒探测器

3.2   X 光管    高、低压电源    MCA多道分析器

3.3   开放式样品腔●二维移动样品平台●探测器和x光管上下移动可实现三维移动

3.4   双激光定位装置●准直器自动切换装置●玻璃屏蔽罩●信号检测电子电路

3.5  计算机及喷墨式打印机

4、仪器软件配置:

4.1、测厚分析软件(配送)

功能介绍:检测、分析镀层的厚度和成分, 可分析单镀层、多镀层以及合金镀层, 具有多种镀层的分析方法, 可做同时显示英制和公制单位

4.2、全元素分析软件(可选购)

功能介绍:能准确,快速地检测、分析出产品的组成成分,有多种分析计算数学模型,方便对不同材料,不同样品的分析测量,可制作多条工作曲线,各个曲线独立测试条件,样品测试方便
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