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产品资料

平面平晶45mm

平面平晶45mm
  • 如果您对该产品感兴趣的话，可以
  • 产品名称：平面平晶45mm
  • 产品型号：45mm
  • 产品展商：hongcheng
  • 产品文档：无相关文档
简单介绍
平面平晶45mm用于以干涉法测量块规，以及检验块规、量规、零件密封面测量仪器及测量工具量面的研合性和平面度的工具。使用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用，也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测
产品描述
 
平面平晶45mm具有两个（或一个）光学测量平面的正圆柱形或长方形的量规。光学测量平面是表面粗糙度数值和平面度误差都极小的玻璃平面，它能够产生光波干涉条纹（见激光测长技术）。
平面平晶用于测量高光洁表面的平面度误差，为用平面平晶检验量块测量面的平面度误差。平行平晶的两个光学测量平面是相互平行的，用于测量两高光洁表面的平行度误差，例如千分尺两测量面的平行度误差.平晶用光学玻璃或石英玻璃制造。
 
平面平晶45mm用途：
平面平晶是用于以干涉法测量块规，以及检验块规、量规、零件密封面测量仪器及测量工具量面的研合性和平面度的工具。使用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用，也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测
 
平面平晶45mm标准规格尺寸：    单位:mm
规格
30
45
60
80
100
150
200
250
300
直径
Φ30
Φ45
Φ60
Φ80
Φ100
Φ150
Φ200
Φ250
Φ300
高度
15
15
20
20
25
30
40
45
45
特殊规格尺寸平面平晶，环形平面平晶，方形平面平晶，方形平面平晶可定做
 
 
平面平晶技术参数：
平面平晶制成精度：1级
平面平晶工作面的平面度编差允许值为
直径
30-100MM
1级平晶
0.03 um
直径
100-300MM
1级平晶
0.05 um

更大尺寸平面度偏差允许值根据国家标准。
平面平晶工作面的局部偏差允许值为0.03 um。
平面平晶测量工作应在20℃±3℃条件下保持数小时后进行。

注：Φ200MM以上标准平面平晶、环形平面平晶需定做
 
 
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