产品名称：UV-A (双通道）紫外辐照计

UV-A (双通道）紫外辐照计

UV-A 型紫外辐照计采用 SMT 贴片技术，选用高
精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探
测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，
适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、
探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路
光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

主要技术指标 

* 波长范围及峰值波长：  

（1）UV-420 探头：λ：(375～475)nm；λP＝420nm 

（2）UV-365 探头：λ：(320～400)nm；λP＝365nm

* 辐照度测量范围： (0.1～199.9×103 ) μW/cm2 

* 紫外带外区杂光： UV420：小于 0.02% UV365：小于 0.02%

* 相对示值误差：±8%（相对与 NIM 标准） 

* 余弦特性(方向性响应)误差：±10%

* 线性误差：±1% 

* 换档误差：±1% 

* 短期不稳定性：±1%（开机 30min 后）

* 疲劳特性：衰减量小于 2%

* 零值误差：满量程的±1% 

* 响应时间：1 秒

* 使用环境： 温度(0～40)℃，湿度＜85%RH

* 尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg 

* 电源： 常规使用 6F22 型 9V 积层电池一只 亦可使用数据线连接 USB 接口、5V 电源适配器供电 整机功耗 ＜0.2VA