AM测量系统:
AM角度测量系统，是SPM公司自主开发，针对回转控制台角度和弧度显示和控制的测量系统。采用磁性原理，利用磁栅尺和磁敏磁头相对移动进行角度测量。利用磁栅尺比较柔软的特性，使磁尺与回转台紧密贴合，实现角度和弧度测量。
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