岱美再一下城, 把FEI双束 (SEM/FIB) 显微镜带进化工原料测量设备的领域

日期：2025-03-07 07:26

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摘要：

国际有名的化工原料生产商选定岱美为供货商, 为其下电子材料技术中心提供 FEI Dual Beam System (SEM/FIB).

FEI把*新的FIB和电子光学技术融为一体, 并结合独特的环境扫描电镜(ESEM)技术, 为用户带来更大的应用灵活性和通用性.

设备主要特点:

-FIB*大束流达到65nA,FIB加工速度大幅度提高
- 电子光学技术*大束流200nA, 分辨率1.2nm, 同时满足高分辨和能谱/EBSD/波谱分析功能
- 环境扫描(ESEM)技术,可观察所有样品; 支持所有环境扫描电镜附件(如加热台)
- 大样品室可安装各种附件和微操控系统
- *新软件技术, 如AutoTEM G2, 三维重构软件等
- 基于Windows XP的系统控制软件, *佳的用户接口

（系统预计于2010年10月交货及安装）

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