产品目录
- EVG 晶圆封装工艺设备
- DELCOM薄膜电阻计
- FSM
- Schmitt 粗糙度测量仪
- MicroSense振动样品磁强计
- MicroSense电容式位移传感器
- Herzan
- Herz 防振台 隔振台
- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
- FEI 电子显微镜
- Imago 三维原子探针
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能谱系统
- SNU
- WaveCatcher场地测量服务和工具
- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
- Simax 步进式光刻机
- CERES
- CETR
- CleanLogix
- Dover
- Essemtec
- First Nano
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- 其它
- 二手仪器及零件
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第十二届中国国际光电博览会 (CIOE 2010) 經已圆满落幕
日期：2025-01-08 05:14
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摘要：
今年岱美中国与欧唐科技合办了三个展台，规模之大****，也是我司**与其他设备分销商合作，获得**成功，成绩令人鼓舞。在此感谢欧唐的高博与几位同事的通力合作，希望将来我们两家能继续合作，再创突破。
承蒙设备供应商的支持，展览期间，我司展示了Filmetrics的膜厚测量仪(www.filmetrics.com)，Schmitt的粗糙度测量仪(www.schmitt-ind.com)和HERZAN&HERZ的防震台(www.herzan.com)，并与很多用户做了深入的交流和互动，赢得很多关注。通过这次参会，不仅使业内人士了解了产品，更加促进了岱美与几家工厂和欧唐的合作关系。
