产品目录
- EVG 晶圆封装工艺设备
- DELCOM薄膜电阻计
- FSM
- Schmitt 粗糙度测量仪
- MicroSense振动样品磁强计
- MicroSense电容式位移传感器
- Herzan
- Herz 防振台 隔振台
- Filmetrics光学膜厚测量仪
- 美国4D动态光学干涉仪
- Chaona 3D光学轮廓仪
- FEI 电子显微镜
- Imago 三维原子探针
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能谱系统
- SNU
- WaveCatcher场地测量服务和工具
- 主轴跳动误差分析仪 主轴运动误差测试系统 主轴误差分析仪
- MKS流量计
- MKS压力计
- MKS残余气体分析仪
- MKS远程等离子体源
- SCI 等离子清洗设备
- Simax 步进式光刻机
- CERES
- CETR
- CleanLogix
- Dover
- Essemtec
- First Nano
- Gatan
- Honda Electronics
- Imago
- Invenious
- Kayex
- Laser Prismatics
- LESCO
- MAT
- mks
- n&K Technology
- nPoint
- Polyteknik
- ShB
- Solar Metrology
- SST
- Tailor
- Tau Science
- Thermo Noran
- VIC
- WestBond
- 其它
- 二手仪器及零件
联系我们
中文网站:www.dymek.cn
上海分公司:
021-38613675/38613676
东莞分公司:
0769-89818868
北京分公司:
010-62615731/62615735
香港总公司:
00852-24153601
新闻详情
岱美中国拿到Filmetrics膜厚测量仪F50的订单(2013.1.10)
日期:2024-11-23 21:00
浏览次数:643
摘要:
岱美中国拿到Filmetrics膜厚测量仪F50的订单。该客户是国家重点高新技术企业、中国电子元件百强企业,2007年12月在深圳上市,致力于研发、设计、生产、销售各种新型SMD石英晶体谐振器和振荡器,为全球通信、资讯、网络、汽车电子和家用电器提供上等电子元器件的专业制造商,技术水平国内**,主导产品SMD石英晶体谐振器的生产规模、产品档次、设备自动化程度位列国内同行业首位,综合排名列国内压电晶体电子元器件企业前三强。公司品牌在国际市场享有声誉,产品销往欧、美、亚及港、台地区,与国际知名大公司建有良好的长期合作关系。
F50膜厚测量仪采用的是波长范围在380-1050nm的可见光干涉测量,全自动机械找点,输出Mappinig图,*大支持12英寸的wafer,测量膜层厚度范围是20nm-70um,准确度高达0.4%或2nm,精度为0.1nm,广泛应用于半导体等众多行业。
F50图片:
F50膜厚测量仪采用的是波长范围在380-1050nm的可见光干涉测量,全自动机械找点,输出Mappinig图,*大支持12英寸的wafer,测量膜层厚度范围是20nm-70um,准确度高达0.4%或2nm,精度为0.1nm,广泛应用于半导体等众多行业。
F50图片: