X荧光元素分析仪日本电子

如果您对该产品感兴趣的话，可以
产品名称：X荧光元素分析仪
产品型号：
产品展商：其他品牌
产品文档：无相关文档

简单介绍

1.检测元素范围 Na--U。 2.X射线发生装置5-50kV,10mA,50W，靶Rh。 3.分辨率149ev。 4.试样舱300mm直径X150mm高。 5.电脑操作Windows2000,标配软件。

产品描述

JSX-3202EV环境分析用元素分析仪、应对EU（欧盟）电器及电子设备废料回收（WEEE）和特定有害物质的使用限制（RoHS）指令。
采用新式光学系统（正在申请**）、高能X射线发生源、高分解能探测器，可以检测塑料、包装材料、颜料中镉（Cd）、铅（Pb）、水银（Hg）、铬（Cr）等特定有害物质和砷（As）等有毒物质，检测精度达到ppm数量级。
塑料中极微量的镉的分析精度达到5ppm，标准试样的分析精度达到2ppm（日本电子（株）应用研究中心测量值）。搭载环境分析用软件，从检测、分析到判断是否合格只需单键就可实现，操作简单，非常适合检测机关、质保部门使用。

产品留言

标题

联系人

联系电话

内容

验证码

点击换一张

注：1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!

温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买前务必确认供应商资质与产品质量。
免责申明：以上内容为注册会员自行发布，若信息的真实性、合法性存在争议，平台将会监督协助处理，欢迎举报

产品目录

产品资料

X荧光元素分析仪