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产品名称：手机面板检测仪
产品型号：VMS-1S
产品展商：韩国TAPEX

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简单介绍

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产品描述

手机面板检测仪的详细资料

技术指标

测量系统	单光束
检测器	1024 光电二极管阵列检测器
光源	卤钨灯
波长范围	400 ~ 1,000nm
测量光束直径	Φ1 mm
建议样品尺寸	*小Φ1.3 mm
波长**度	<1.5 nm (在637.80nm处氧化钬滤光片)
波长重复性	0.2 nm
光度准确度	<1.5 %T(在546.1nm, 590nm, 635nm处中性密度玻璃滤光片）
光度重复性	<0.2 %T
载物台	双层载物台设计(尺寸: 210 x 140 mm, 移动范围: 75 x 50 mm)
目镜	宽视野 WF10X(Φ20 mm)
物镜	5x

手机面板测试仪的详细资料

技术指标

测量系统	单光束
检测器	1024 光电二极管阵列检测器
光源	卤钨灯
波长范围	400 ~ 1,000nm
测量光束直径	Φ1 mm
建议样品尺寸	*小Φ1.3 mm
波长**度	<1.5 nm (在637.80nm处氧化钬滤光片)
波长重复性	0.2 nm
光度准确度	<1.5 %T(在546.1nm, 590nm, 635nm处中性密度玻璃滤光片）
光度重复性	<0.2 %T
载物台	双层载物台设计(尺寸: 210 x 140 mm, 移动范围: 75 x 50 mm)
目镜	宽视野 WF10X(Φ20 mm)
物镜	5x

详细信息

特点

• 小型化独立本体 (小的占地面积)
• 光电阵列检测器（PDA)
• 小样品的透射率和反射率测量功能
• 高信噪比
• 优异的波长重复性

应用

• 新型LED光电材料检测分析
• 微观颗粒的可视化检测分析
• 涂层色度检测分析
• 刑侦，法医鉴定分析
• 半导体材料分析
• 薄膜厚度测量

规格

• 检测系统 : 单光束
• 检测器 : 1024 光电二极管阵列检测器
• 光源 : 钨灯
• 波长范围 : 400 ~ 1,000纳米
• 波长精度 : 1.5 纳米
• 波长重复性 : 0.2 纳米
• 平台 : 机械双层平台 (尺寸 : 210 x 140 毫米, 移动范围 : 75 x 50 毫米)
• 目镜 : 广视角 WF10倍(直径20 mm)
• 物镜 : 5x

详细信息

特点

• 小型化独立本体 (小的占地面积)
• 光电阵列检测器（PDA)
• 小样品的透射率和反射率测量功能
• 高信噪比
• 优异的波长重复性

应用

• 新型LED光电材料检测分析
• 微观颗粒的可视化检测分析
• 涂层色度检测分析
• 刑侦，法医鉴定分析
• 半导体材料分析
• 薄膜厚度测量

规格

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